制品平整度分析

检测项目

1.整体平整度：最大平面偏差，基准面偏离量，全幅高度差，综合平整度评价值。

2.表面起伏度：峰谷高度，局部起伏幅值，连续起伏间距，起伏分布均匀性。

3.翘曲变形：纵向翘曲，横向翘曲，对角翘曲，自由状态翘曲量。

4.波浪度：波峰波谷差，波长分布，边部波浪，中部波浪。

5.边缘平直度：边缘弯曲量，边线偏移量，边缘起翘，边缘局部凹陷。

6.厚度均匀性：厚度差，区域厚薄变化，边中厚度偏差，厚度梯度。

7.平面度稳定性：静置后变形量，受力释放后回复情况，温湿变化后的平整度变化，时效变形。

8.局部缺陷形貌：鼓包，塌陷，压痕，凸点。

9.装夹影响测试：支撑方式影响，夹持变形，测量姿态偏差，多点支撑差异。

10.热影响变形：加热后翘曲，冷却后残余变形，温差引起的表面拱曲，热循环后平整度变化。

11.残余应力相关变形：切割后释放变形，去应力后平面变化，加工后回弹，区域应力不均导致的弯曲。

12.装配适配平面性：接触面间隙，贴合度，基准面配合偏差，装配后平面吻合性。

检测范围

金属板材、金属薄片、冲压件、机加工平板、覆铜基板、陶瓷基片、玻璃面板、显示基板、塑料片材、复合板材、橡胶垫片、密封垫片、石材板、木质板材、包装硬片、隔热板、散热板、模切片

检测设备

1.平整度测量平台：用于建立稳定测量基准面，配合多点测量测试制品整体平面偏差。

2.三坐标测量仪：用于获取制品表面多点空间坐标，分析整体平整度、翘曲和局部高度差。

3.激光位移测量仪：用于非接触测定表面高度变化，适合薄片类制品起伏和波浪度分析。

4.轮廓测量仪：用于扫描截面形貌，测试边缘变形、局部凹凸及表面曲线变化。

5.光学平面测量系统：用于大面积快速采集表面形貌数据，适合平面度与翘曲分布测定。

6.电子水平测量仪：用于测量基准面倾斜和局部高低差，辅助判定样品放置状态对结果的影响。

7.厚度测量仪：用于测定不同位置厚度变化，分析厚度不均与平整度异常之间的关联。

8.表面形貌分析仪：用于精细表征微小起伏、凸点和压痕等表面缺陷形貌特征。

9.恒温恒湿试验设备：用于模拟环境变化条件，观察制品在温湿度作用下的平整度稳定性。

10.应力释放辅助装置：用于切边、去载或静置条件下的变形观察，测试残余应力对平整度的影响。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.