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高新技术企业证书
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硅钢片测试

原创
发布时间:2025-06-30 16:56:56
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检测项目

磁性能检测:

  • 铁损:P1.5/50≤1.30W/kg、P1.0/400≤5.0W/kg(参照IEC 60404-2)
  • 磁感强度:B8000≥1.71T、B10000≥1.80T
机械性能检测:
  • 拉伸性能:屈服强度≥300MPa、抗拉强度≥350MPa
  • 硬度检测:维氏硬度HV10≥130、洛氏硬度HRB≥70
化学成分分析:
  • 元素含量:硅含量2.5-3.5wt%、碳含量≤0.005%
  • 杂质控制:硫含量≤0.010%、磷含量≤0.020%
涂层性能检测:
  • 绝缘涂层:厚度3-5μm、附着力≥5N/mm²
  • 表面电阻:≥100MΩ(直流500V)
尺寸公差检测:
  • 厚度偏差:±0.01mm(宽度≤1000mm)
  • 宽度公差:±0.5mm、长度公差±1.0mm
表面质量检测:
  • 光洁度:Ra≤0.8μm、Rz≤6.3μm
  • 缺陷控制:无划痕、氧化皮(目视检测)
绝缘性能检测:
  • 电阻测试:表面绝缘电阻≥100MΩ、体积电阻≥10MΩ·cm
  • 介电强度:≥1000V/mm
弯曲性能检测:
  • 弯曲试验:180°弯曲无裂纹(厚度≤0.35mm)
  • 延展性:断后伸长率≥20%
叠片系数检测:
  • 密度测试:叠片密度≥95%、孔隙率≤2%
  • 层间压力:压缩强度≥50MPa
老化稳定性检测:
  • 热老化:150°C/1000h后铁损变化≤5%
  • 湿热老化:85°C/85%RH/500h后电阻变化≤10%

检测范围

1. 冷轧取向硅钢片: 牌号如30Q130,检测重点为磁各向异性和高磁感强度。

2. 冷轧无取向硅钢片: 牌号如50W470,侧重铁损均匀性和高频性能。

3. 高硅含量硅钢片: 硅≥3.2wt%,检测磁饱和点和热稳定性。

4. 薄规格硅钢片: 厚度≤0.30mm,重点尺寸精度和弯曲性能。

5. 厚规格硅钢片: 厚度≥0.50mm,检测机械强度和叠片系数。

6. 绝缘涂层硅钢片: 含磷酸盐涂层,检测涂层附着力和绝缘电阻。

7. 无涂层硅钢片: 裸片材料,检测表面氧化控制和清洁度。

8. 变压器铁芯用硅钢片: 取向型,检测叠片密度和磁滞损耗。

9. 电机定子用硅钢片: 无取向型,侧重高频铁损和振动性能。

10. 特殊合金硅钢片: 添加铝或锰,检测元素分布和磁老化。

检测方法

国际标准:

  • IEC 60404-2 磁性材料磁性能测量方法
  • ASTM A34/A34M 硅钢片测试标准
  • ISO 3887 钢铁硅含量测定
  • ISO 6507-1 金属材料维氏硬度试验
国家标准:
  • GB/T 2521 冷轧晶粒取向、无取向磁性钢带(片)
  • GB/T 228.1 金属材料拉伸试验
  • GB/T 13789 电工钢片(带)磁性能测量方法
  • GB/T 4340.1 金属材料维氏硬度试验
方法差异说明:IEC 60404-2采用爱普斯坦方圈法测试铁损,频率50Hz;GB/T 13789使用类似方法但允许频率扩展至400Hz。ASTM A34指定拉伸试验应变速率0.005/min,而GB/T 228.1规定0.00025-0.0025/s范围。

检测设备

1. 磁性能测试仪: Brockhaus MPG200D型(频率范围20-400Hz,精度±0.5%)

2. 电子万能试验机: Zwick Roell Z050型(载荷范围0.1-50kN,速度0.001-1000mm/min)

3. 直读光谱仪: OBLF QSN750-II型(检测限0.0001%,元素范围C-S)

4. 涂层测厚仪: ElektroPhysik MiniTest 4100型(测量范围0-200μm,精度±1%)

5. 表面粗糙度仪: Mitutoyo SJ-410型(范围0.05-40μm,分辨率0.01μm)

6. 维氏硬度计: Wilson VH1150型(载荷0.5-100kgf,精度±2%)

7. 金相显微镜: Olympus BX53型(放大倍率50-1000x,CCD分辨率5MP)

8. 绝缘电阻测试仪: Keysight B2985A型(电阻范围10MΩ-10TΩ,电压500V)

9. 弯曲试验机: Tinius Olsen H25KT型(角度范围0-180°,载荷25kN)

10. 厚度测量仪: Mitutoyo 543-401型(精度0.001mm,量程0-25mm)

11. 老化试验箱: Binder KBF720型(温度范围-70-180°C,湿度10-98%RH)

12. 叠片密度测试仪: 定制压力机(压力范围0-10MPa,精度±0.1MPa)

13. X射线荧光仪: PANalytical Epsilon 3型(元素范围Na-U,检测限0.001%)

14. 冲击试验机: Zwick Roell HIT450型(冲击能量450J,温度范围-196-200°C)

15. 介电强度测试仪: Chroma 19032型(电压范围0-5kV,精度±0.5%)

北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.

合作客户(部分)

1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;

2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;

3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;

4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。

合作客户

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