检测项目
精度性能检测：
- 线性度误差：最大偏差±0.1% FS（参照IEC 60770-1）
- 重复性误差：标准差≤0.05% FS
- 迟滞误差：正向反向差≤0.1% FS
环境适应性检测：- 温度影响：范围-40°C至85°C，变化量≤1% FS
- 湿度影响：95% RH条件下绝缘电阻≥100MΩ
- 振动影响：频率5-2000Hz，加速度10g（参照ISO 16063-21）
电气性能检测：- 输出信号：电流范围4-20mA，负载电阻250Ω
- 功耗：额定值≤1W
- 绝缘强度：1500V AC耐压1min无击穿
机械性能检测：- 过压能力：150% FS持续5min无失效
- 冲击阻力：50g加速度11ms半正弦波（参照MIL-STD-810）
- 密封性：IP67防护等级验证
长期稳定性检测：- 零点漂移：年度变化≤0.1% FS
- 量程漂移：年度变化≤0.2% FS
介质兼容性检测：- 腐蚀性介质：pH 2-12溶液暴露24h无腐蚀（参照ASTM G31）
- 油品兼容性：ASTM D471标准浸泡测试
响应时间检测：- 上升时间：≤10ms（90%响应）
- 下降时间：≤10ms（90%响应）
EMC检测：- 电磁兼容性：EN 61326标准辐射抗扰度
- 射频干扰：30-1000MHz频率范围测试
密封性检测：- 压力密封：1.5倍FS加压无泄漏
- 气密性：氦检漏率≤1×10⁻⁶ mbar·L/s
材料分析：- 材料成分：不锈钢304中Cr含量≥18%
- 表面处理：镀金厚度≥5μm（参照GB/T 9797）
检测范围
1. 压阻式压力传感器： 应变片结构检测重点为灵敏度系数和温度补偿性能
2. 电容式压力传感器： 电容变化范围验证，侧重线性度误差和介质兼容性
3. 压电式压力传感器： 电荷输出稳定性测试，重点温度影响和冲击响应
4. 陶瓷压力传感器： 脆性材料检测，包括抗裂强度和介质侵蚀测试
5. 扩散硅压力传感器： 温度漂移补偿验证，长期稳定性为重点
6. 薄膜压力传感器： 薄层电阻精度检测，耐久性循环测试
7. MEMS压力传感器： 微型化器件检测，侧重尺寸公差和灵敏度验证
8. 工业压力变送器： 信号处理电路校准，输出精度和环境适应性测试
9. 医用压力传感器： 生物兼容性测试，灭菌性能（如高压蒸汽测试）
10. 汽车用压力传感器： 振动和冲击耐久性检测，温度循环重点
检测方法
国际标准：
- IEC 60770-1:2010 工业过程控制系统用变送器性能测试
- ISO 16063-21:2003 振动与冲击传感器校准方法
- ASTM E74-14 力传感器校准规程
- EN 61326-1:2013 测量、控制和实验室设备电磁兼容性要求
国家标准：- GB/T 15478-2015 压力传感器性能试验方法
- JJG 882-2019 压力变送器检定规程
- GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验高温测试
- GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验低温测试
国际标准如IEC 60770-1强调温度循环范围更宽（-40°C至125°C），而GB/T 15478-2015规定特定环境条件（-25°C至70°C），且应变速率要求不同。ISO 16063-21振动测试频率上限较高，对比GB/T 2423标准低频范围更窄。
检测设备
1. 压力校准器： DPI 620型（精度±0.025%，范围0-100MPa）
2. 环境试验箱： Weiss WK3-340（温度范围-70°C至180°C）
3. 振动试验台： LDS V850（频率范围5-3000Hz，最大加速度100g）
4. 电参数分析仪： Keysight 34465A（电压测量精度±0.05%，电流范围0-10A）
5. EMC测试系统： Rohde & Schwarz TS8997（频率范围30MHz-6GHz）
6. 绝缘测试仪： Megger MIT525（测试电压0-5kV，电阻范围0.01Ω-10TΩ）
7. 光谱分析仪： Olympus DSX1000（材料成分检测限0.01%）
8. 数据采集系统： NI cDAQ-9178（采样率100kHz，通道数8）
9. 温度湿度计： Testo 635（精度±0.5°C，湿度精度±2% RH）
10. 冲击试验机： Instron 9250HV（冲击能量100J，波形半正弦）
11. 密封测试仪： Uson AccuPore II（泄漏率检测下限0.1 sccm）
12. 显微镜： Olympus BX53（放大倍数40x-1000x）
13. 电源供应器： Agilent E3631A（输出电压0-30V，电流0-5A）
14. 信号发生器： Tektronix AFG31000（频率范围1Hz-1MHz，幅度0-10Vpp）
15. 计算机控制系统： 用于实时数据分析和测试序列控制
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作，并获得众多好评；
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领；
3、坚持科学发展道路，统筹实验建设与技术人才培养共同发展；
4、学习贯彻人大精神，努力发展自身科技实力。
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