中析研究所CMA实验室进行的薄膜元器件检测,可测样品:MOS管、光敏电阻等,会为您提供电磁兼容性、可见光透过率等检测服务,并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。
项目详情:
薄膜元器件检测是一项用于检测薄膜元器件质量和性能的项目。薄膜元器件广泛应用于电子、光电子、光学等领域,包括薄膜电容器、薄膜电阻器、薄膜传感器等。通过对薄膜元器件进行检测,可以确保其制造工艺和性能符合设计要求,以提高产品的可靠性和稳定性。检测项目主要包括外观检测、尺寸测量、电性能测试、热稳定性测试等。常用的检测方法有显微镜观察、电阻测量、电容测量等。
检测范围
电容器、电感器、电阻器、二极管、三极管、MOS管、场效应管、光敏电阻、光电二极管、光耦合器件、声音传感器等。
检测项目
外观检测、电阻、电容、电感、介电常数、介电损耗、频率特性、温度特性、厚度、光学特性、电流密度、热分解温度、耐电压、耐湿热、焊接性能、可靠性、包装完整性、封装材料性能、表面平整度、可见光透过率、抗腐蚀性、抗氧化性、封装密封性、电磁兼容性、静电放电、可靠性、环境适应性等。
技术相关、费用详情或其他测试项目请咨询工程师!
参考周期:常规测试7-15工作日,加急测试5个工作日.

检测仪器(部分):
扫描电子显微镜、原子力显微镜、红外光谱仪、电子束物理气相沉积仪、电子束蒸发器、溅射沉积设备、电子束光刻机、电子束束缚机、光学显微镜、拉曼光谱仪、电子束热蒸发仪、表面粗糙度测试仪、光学薄膜分析仪等。



检测详情(部分):
电性能测试:测试薄膜元器件的电阻、电容、电感等电性能参数,以测试其电学性能和稳定性。
尺寸和外观检测:检测薄膜元器件的尺寸、外观和结构,包括长度、宽度、厚度、焊盘连接等,以测试其制造工艺的准确性和产品的品质。
温度特性测试:测试薄膜元器件在不同温度下的电性能和温度特性,包括温度系数、工作温度范围等,以测试其在不同温度环境下的性能和稳定性。
耐久性测试:测试薄膜元器件的耐久性和可靠性,包括热老化、湿热老化、震动和冲击等环境条件下的性能变化,以测试其在实际应用中的可靠性。
包装完整性检测:检测薄膜元器件的包装完整性和密封性,包括包装材料的完整性、标签的准确性和包装防尘性等,以测试其质量控制和产品的保护性。
参考标准
GB/T 26332.1-2018 光学和光子学 光学薄膜 第1部分:定义
GB/T 26332.2-2015 光学和光子学 光学薄膜 第2部分:光学特性
GB/T 26332.3-2015 光学和光子学 光学薄膜 第3部分:环境适应性
GB/T 26332.4-2015 光学和光子学 光学薄膜 第4部分:规定的试验方法
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
服务优势
1、实验室拥有CMA资质,可承接大型检测、高科技试验认证。
2、初检样品,与您讨论项目详情,制定详细的实验方案。
3、实验室提供编写MSDS报告以及TDS报告服务。
4、检测试验领域广,适用标准包括国标、行标、企标、地标,也可进行非标试验。
5、周期短,费用低,方案全。
6、支持定制化试验方案,数据更加科学准确。
7、全国上门取样/现场见证试验。
8、资质全,团队强,后期服务体系完善。
9、在线工程师一对一服务。
测试流程
1、与工程师沟通,确定具体的试验方案,我方报价;
2、双方签订委托书,我方接收样品;
3、进行细节沟通,我方进行试验测试;
4、试验测试完成,出具检测测试报告;
5、委托完成,我方提供售后服务。

仪器设备(部分)
包括但不限于:
1、可程式高低温试验箱、电液伺服动静疲劳试验机、电感耦合等离子光谱发生仪;
2、氦质谱检漏仪、微机控制电液伺服万能试验机、液相色谱质谱联用仪;
3、氙灯老化机、紫外老化机、原子吸收光谱仪、红外测油仪、全谱高分辨率光谱仪;
4、原子荧光分光光度计、离子色谱仪、紫外可见分光光度计、二氧化碳培养箱;
5、氙灯老化机、紫外老化机、原子吸收光谱仪、气相色谱仪、实验动物全身吸入暴露系统等。



合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻二十大精神,努力发展自身科技实力。