传感器温度循环检测

检测范围

压力传感器、温度传感器、位移传感器、加速度传感器、力传感器、扭矩传感器、流量传感器、液位传感器、湿度传感器、气体传感器、光电传感器、磁传感器、霍尔传感器、应变传感器、压电传感器、电容传感器、电感传感器、热电偶传感器、热敏电阻传感器、生物传感器等。

检测项目

温度循环次数、温度循环范围、温度变化速率、温度保持时间、温度冲击、热疲劳、温度循环后性能变化、温度循环后零点漂移、温度循环后灵敏度变化、温度循环后绝缘电阻、温度循环后密封性、温度循环后外观、温度循环失效模式、温度循环可靠性、热应力、热应变、温度循环寿命、温度循环等级、温度循环试验条件等。

检测仪器(部分)：

高低温交变试验箱，温度冲击试验箱，温度循环试验箱，数据采集系统，温度记录仪，性能测试仪，绝缘电阻测试仪，密封测试仪，外观检测设备，显微镜等。

检测方法(部分)：

温度循环法：将传感器在高低温之间循环，检验温度变化耐受性。常用的设备有高低温交变试验箱。

温度冲击法：将传感器在极端温度间快速转移，检验温度冲击耐受性。常用的设备有温度冲击试验箱。

温度梯度法：按设定温度梯度进行循环，测量各温度点性能。常用的设备有温度循环试验箱和数据采集系统。

性能监测法：在温度循环过程中持续监测传感器性能变化。常用的设备有数据采集系统和性能测试仪。

失效分析法：对温度循环后失效传感器进行原因分析。常用的设备有显微镜和失效分析设备。

参考标准

GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化

GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

IEC 60068-2-14:2009 环境试验 第2部分：试验 试验N：温度变化

IEC 60068-2-1:2007 环境试验 第2部分：试验 试验A：低温

IEC 60068-2-2:2007 环境试验 第2部分：试验 试验B：高温

MIL-STD-810G 环境工程考虑和实验室试验

SAE J1455 商用货车和改装车环境试验推荐规程

JIS C 0025:2012 环境试验方法 电气电子 温度变化试验

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.