检测项目
物理性能检测：
- 真密度测定：孔隙率≤5%（参照GB/T 13390）
- 振实密度测试：松装比≥0.85g/cm³（参照ISO 3953）
- 粒度分布分析：D50值（10-100μm区间）
化学分析检测： - 灰分含量：≤0.3wt%（参照ASTM D3174）
- 硫分含量：≤0.5wt%（等效GB/T 214）
- 挥发分测定：残碳率≥98.5%
电学性能检测： - 电阻率测试：范围0.1-10 Ω·cm（参照ISO 3915）
- 电导率校准：温度系数±0.01%/℃
- 循环寿命测试：充放电次数≥1000次（等效GB/T 18287）
热性能检测： - 热膨胀系数：CTE≤2.0×10^-6/K（参照ASTM E228）
- 导热系数测定：λ≥100 W/m·K（等效GB/T 10295）
- 热失重分析：TG曲线稳定性（温度范围25-1000℃）
机械性能检测： - 抗压强度：≥50MPa（参照ISO 604）
- 硬度测试：HV值（维氏法，载荷10N）
- 断裂韧性测试：KIC≥1.0 MPa·m^0.5
结构特性检测： - 晶粒度分析：平均粒径≤10μm（参照ASTM E112）
- 微观结构观察：SEM成像分辨率（放大倍数1000-5000X）
- X射线衍射：石墨化度≥90%（等效GB/T 13298）
纯度检测： - 金属杂质控制：Fe含量≤50ppm（参照ISO 11885）
- 水分含量：≤0.1wt%（等效GB/T 6284）
- 酸不溶物测定：残留率≤0.2%
尺寸检测： - 颗粒形状因子：球形度≥0.8（参照ISO 9276-6）
- 厚度均匀性：公差±0.05mm（等效GB/T 3075）
- 表面粗糙度：Ra≤0.5μm（参照ISO 4287）
密度检测： - 表观密度测试：范围1.5-2.2g/cm³（参照GB/T 5162）
- 松密度测定：堆积角测定（角度≤30°）
- 压汞法孔隙分析：孔径分布（0.01-100μm）
表面特性检测： - 润湿角测量：接触角≥90°（参照ASTM D7334）
- 比表面积测定：BET法（范围1-100m²/g）
- 表面能计算：极性分量分析（参照ISO 19403）
检测范围
1. 锂离子电池负极材料石墨化焦： 重点检测电阻率稳定性、循环寿命及锂离子嵌入性能，确保高能量密度和低自放电率。
2. 铝电解槽阳极石墨化焦： 侧重灰分含量、抗热震性及硫分控制，满足电解效率和腐蚀耐受需求。
3. 钢铁冶炼增碳剂石墨化焦： 强调固定碳含量、挥发分残留及粒度均匀性，优化钢液渗碳效果。
4. 核反应堆慢化剂石墨化焦： 检测辐射耐受性、中子吸收截面及纯度水平，保障核安全性能。
5. 航空航天隔热材料石墨化焦： 重点测试导热系数、轻量化密度及高温强度，适应极端环境应用。
6. 燃料电池双极板石墨化焦： 侧重电导率一致性、气体渗透率及表面光滑度，提升电池效率。
7. 半导体坩埚衬里石墨化焦： 检测金属杂质限值、热稳定性及晶体缺陷，确保高纯硅生长环境。
8. 化工催化剂载体石墨化焦： 强调比表面积均匀性、孔隙结构及化学惰性，优化反应活性。
9. 电弧炉电极石墨化焦： 重点测试抗电弧侵蚀性、机械强度及电阻率一致性，延长电极寿命。
10. 石墨烯前驱体石墨化焦： 侧重晶格完整性、层间间距及杂质控制，促进高质量石墨烯制备。
检测方法
国际标准：
- ASTM D3174-12 焦炭灰分测定方法
- ISO 80000-1:2022 物理量基本单位定义
- ISO 3953:2011 金属粉末振实密度测试
- ASTM E112-13 平均晶粒度测定规程
- ISO 3915:2021 石墨材料电阻率测定方法
国家标准： - GB/T 13390-2008 金属粉末振实密度测定
- GB/T 214-2007 煤中全硫测定方法
- GB/T 228.1-2021 金属材料拉伸试验
- GB/T 5162-2021 金属粉末表观密度测定
- GB/T 10295-2008 绝热材料导热系数测定
（差异说明：国际标准如ISO 3915使用四探针法电阻率测量，而GB等效标准采用双电极法，导致接触电阻修正参数不同；ASTM E112晶粒度评级基于线性截距法，GB/T 13298则优先选用面积法，影响粒径统计精度。）
检测设备
1. 电子万能试验机： INSTRON 5967型（载荷范围0.5-300kN，精度±0.5%）
2. 激光粒度分析仪： Malvern Mastersizer 3000（测量范围0.01-3500μm，分辨率0.1nm）
3. 电阻率测试系统： Keithley 2450源表（电阻范围10^-6-10^12 Ω，温度控制-40-150℃）
4. 热重分析仪： Netzsch STA 449 F3（温度范围室温-1600℃，精度±0.1℃）
5. 扫描电子显微镜： Hitachi SU3500（分辨率1.0nm，放大倍数10-300,000X）
6. X射线衍射仪： Bruker D8 Advance（角度范围5-90°，精度0.0001°）
7. 电子天平： Sartorius BSA224S-CW（称量范围0-220g，精度0.1mg）
8. 比表面积分析仪： Micromeritics ASAP 2460（BET法范围0.01-1000m²/g，真空度<10^-6 Torr）
9. 导热系数测定仪： Hot Disk TPS 2500S（测量范围0.005-500 W/m·K，温度-150-1000℃）
10. 循环寿命测试系统： Arbin BT2000（电压范围0-5V，电流精度±0.1%）
11. 维氏硬度计： Wilson Wolpert Tukon 2500（载荷1-1000g，压痕分辨率0.1μm）
12. 红外光谱仪： Thermo Nicolet iS50（波长范围4000-400cm⁻¹，分辨率0.4cm⁻¹）
13. 压汞孔隙度仪： Micromeritics AutoPore V 9600（孔径测量0.003-360μm，压力0-60,000psi）
14. 表面能分析仪： KRUSS DSA25（接触角测量精度±0.1°，温度控制20-80℃）
15. 热膨胀仪： Netzsch DIL 402 C（膨胀系数精度±0.1×10^-6/K，温度范围-180-1600℃）
北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作，并获得众多好评；
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领；
3、坚持科学发展道路，统筹实验建设与技术人才培养共同发展；
4、学习贯彻人大精神，努力发展自身科技实力。
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