检测项目
1.透射性能:全波段透射率,单波长透射率,角度依赖透射率。
2.膜层厚度:平均厚度,厚度均匀性,厚度梯度。
3.表面形貌:表面粗糙度,微孔密度,划痕程度。
4.成分分析:主要元素含量,杂质元素含量,元素分布均匀性。
5.晶体结构:晶粒尺寸,晶向取向,相组成。
6.界面质量:界面平整度,界面扩散层厚度,界面缺陷。
7.光谱响应:透射光谱峰位,光谱带宽,吸收边位置。
8.电学关联:电阻率,片电阻,载流子浓度。
9.热稳定性:热处理前后透射变化,膜层稳定性,形貌变化。
10.环境影响:湿热后透射衰减,盐雾后表面变化,老化后成分变化。
11.缺陷测试:针孔缺陷,局部脱落,边缘崩裂。
12.应力状态:膜层内应力,热应力变化,应力均匀性。
检测范围
金属薄膜、透明导电膜、金属网格膜、光学镀膜、反射增强膜、遮光膜、金属涂层玻璃、金属涂层塑料、金属蒸镀膜、金属溅射膜、复合金属膜、金属合金薄层、金属氧化物复合层、器件电极膜、光学滤光层、传感器金属层
检测设备
1.光谱测量仪:用于获取透射光谱与透射率变化曲线,测试光学性能。
2.膜厚测量仪:用于测定薄膜厚度与均匀性,支持多点扫描。
3.显微成像系统:用于观察表面形貌与缺陷分布,支持高倍率成像。
4.元素分析仪:用于测定元素组成及含量,评价杂质水平。
5.晶体结构分析仪:用于获取晶体取向与相组成信息,测试结构特征。
6.界面剖析仪:用于分析膜层界面形貌与扩散层特征。
7.电性能测试仪:用于测量电阻率与片电阻,关联光电特性。
8.环境试验箱:用于模拟湿热与老化条件,测试稳定性变化。
9.应力测试仪:用于测定膜层内应力与应力分布,判断可靠性。
10.热处理装置:用于进行热稳定性试验,观察透射与形貌变化。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。