检测项目
1.几何尺寸检测:插针体外径、同心度、曲率半径、顶点偏移量、光纤高度、插针体长度、倒角角度与尺寸。
2.端面三维形貌检测:端面曲率半径、顶点偏移、光纤凹陷/凸出量、端面粗糙度、划痕与缺陷定量分析。
3.端面二维干涉检测:曲率半径、顶点偏移、光圈数、局部不规则性。
4.端面外观与缺陷检测:划痕、裂纹、麻点、污染、崩边等表面缺陷的识别与尺寸评定。
5.材料物理性能检测:材料密度、硬度、抗弯强度、断裂韧性、热膨胀系数。
6.机械性能与耐久性检测:插拔力、轴向负荷耐受性、扭转强度、插拔循环寿命。
7.光纤对准与保持力检测:光纤与插针体孔间的同轴度、光纤固定强度。
8.环境可靠性检测:高温高湿老化、温度循环、热冲击、盐雾腐蚀。
9.光学性能关联检测:插入损耗、回波损耗与插针体几何参数的相关性分析。
10.清洁度检测:端面颗粒污染物数量与尺寸分布。
检测范围
单模光纤陶瓷插针体、多模光纤陶瓷插针体、金属插针体、复合材质插针体、微型插针体、多芯光纤插针体、现场研磨型插针体、预抛型插针体、光纤阵列用插针体、连接器适配器内置插针体、裸光纤适配插针体、特殊涂层插针体、高密度连接用插针体、抗恶劣环境专用插针体、光纤传感用插针体
检测设备
1.光纤端面干涉仪:用于精确测量端面曲率半径和顶点偏移;基于相移干涉原理,实现纳米级形貌重建。
2.三维光学轮廓仪:用于非接触式测量端面三维形貌与粗糙度;结合白光干涉或共聚焦技术,提供高分辨率三维数据。
3.自动端面检测仪:用于快速进行端面外观的自动化缺陷检测与评级;集成高分辨率显微成像与智能图像分析算法。
4.高精度几何量测仪:用于测量插针体外径、同心度等关键尺寸;通常采用接触式测头或高精度光学投影方法。
5.插拔力寿命试验机:用于模拟插拔过程并测试插拔力与循环寿命;可编程控制插拔速度、行程与循环次数。
6.材料试验机:用于测试插针体的抗弯强度、轴向负荷等机械性能;配备微型夹具与高灵敏度传感器。
7.环境试验箱:用于进行温湿度循环、高温高湿老化等环境可靠性测试;提供可控且稳定的温湿度环境。
8.显微硬度计:用于测量插针体材料的显微维氏硬度或努氏硬度;适用于陶瓷等硬脆材料的微小区域测试。
9.光纤保持力测试仪:专门用于测试光纤从插针体中拔出的轴向力;确保光纤固定的牢固性。
10.清洁度分析系统:用于分析端面残留颗粒的尺寸与数量;通常结合高倍显微镜与图像处理软件。
相关检测的发展前景与展望
随着光通信向高速率、高密度与低成本制造发展,光纤连接器插针体检测技术正朝向更高精度、全自动化与智能化深度演进。在线实时检测与过程质量控制将成为主流,集成机器视觉与人工智能算法的检测系统能够实现缺陷的自动分类与工艺溯源。针对多芯光纤、硅光芯片耦合等新型应用,对插针体三维形貌与对准精度的测量要求将达到亚微米乃至纳米级。此外,基于数字孪生的虚拟检测与预测性维护,以及更加统一和细化的国际间互认标准体系,将进一步提升检测效率与行业质量基准,支撑未来光网络的可靠部署与运维。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。