检测项目
基础分布参数:
- 中位径D50:10-80μm(参照GB/T19077-2016)
- 特征粒径:D10≥5μm,D90≤150μm
- 粒径跨度:(D90-D10)/D50≤1.8
区间占比分析:- 细粉占比:<20μm颗粒比例≤15%
- 粗粒控制:>125μm颗粒比例≤5%
- 主峰区间:40-70μm占比≥60%
比表面积测定:- BET法测试:1.5-3.0m²/g(ISO18757)
- 透气法对比:偏差率≤8%
形貌特征:- 长径比:1.2-1.8(动态图像法)
- 球形度:≥0.85
分散稳定性:- 超声分散效率:300W下团聚体解聚率≥98%
- 沉降速率:静置30min悬浮率≥90%
光学特性:- 遮光率控制:8%-12%(激光衍射法)
- 折射率设定:1.52-1.57
电学参数:- 电导率:≤5μS/cm(湿法分散介质)
- Zeta电位:-30mV至-50mV
干湿法对比:重复性验证:- 同一样品RSD:D50≤1.5%
- 区间占比RSD:≤3%
应用关联参数:- 标准稠度需水量:≤75ml(关联比表面积)
- 2h抗压强度:≥4.0MPa(关联粗颗粒比例)
检测范围
1.建筑抹灰石膏:重点控制D50(25-45μm)及细粉含量,确保施工流动性
2.陶瓷模具石膏:监测40-70μm主峰区间占比>65%,保障模具强度
3.医用牙科石膏:严控>80μm颗粒清零,比表面积≥2.5m²/g
4.α型高强石膏:分析D10/D90跨度≤1.2,优化晶体长径比
5.自流平石膏基材:验证<30μm颗粒占比>40%,保证流平性
6.防火板增强石膏:检测球形度≥0.9,提升纤维结合力
7.3D打印石膏粉:聚焦20-60μm窄分布(跨度≤0.8)
8.艺术铸造石膏:要求125-150μm颗粒清零,降低表面气孔率
9.膨胀石膏制品:监控粗粒级配,D90需≤100μm
10.工业填料石膏:测定Zeta电位稳定性,保障复合材料分散
检测方法
国际标准:
- ISO13320:2020激光衍射粒度分析通则
- ISO18757:2003陶瓷粉末比表面积测定
- ISO22412:2017动态光散射粒径分析
国家标准:- GB/T19077-2016粒度分布激光衍射法
- GB/T19587-2017气体吸附BET法测定比表面积
- GB/T31057.2-2018颗粒材料沉降法测定粒度分布
方法差异说明:ISO13320要求湿法分散采用循环泵速≥2000rpm,GB/T19077规定干法压力0.2-0.4MPa;BET法中国标限定脱气温度120℃±5℃,高于ISO的100℃±10℃范围。
检测设备
1.激光粒度仪:Mastersizer3000型(量程0.01-3500μm,重复性±0.5%)
2.动态图像分析仪:QICPIC-RODOS/L型(分辨率0.5μm,速度250帧/秒)
3.超声分散系统:UIP2000hdT型(功率0-2000W连续可调,频率20kHz)
4.比表面积分析仪:3H-2000PM2型(真空度≤10⁻³Pa,多站并行检测)
5.干法分散单元:Scirocco9500型(压力0.05-0.5MPa,文丘里负压设计)
6.离心沉降仪:DC24000型(转速0-24000rpm,光学检测精度±2nm)
7.电导率监控仪:DDSJ-319L型(量程0-2000μS/cm,精度±0.5%)
8.Zeta电位仪:ZetasizerPro型(电场强度0-40V/cm,温控±0.1℃)
9.真空脱气站:VacPrep061型(脱气温度室温-400℃,精度±1℃)
10.标准振动筛:Φ200型试验筛(孔径5-125μm,符合GB/T6005)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。