系统安全元素检测

检测项目

1.物理安全分析：防拆解结构检测、防探针攻击测试、封装完整性验证、侧信道攻击防护测试。

2.硬件安全功能验证：真随机数发生器测试、物理不可克隆功能验证、安全存储区域访问控制测试。

3.加密算法与协议测试：对称与非对称算法实现正确性验证、密钥管理流程安全性测试、安全通信协议一致性测试。

4.固件与软件安全测试：安全启动链验证、固件完整性校验、代码防篡改机制测试、安全更新流程审查。

5.身份认证功能测试：生物特征识别模块性能测试、密码学认证协议安全性验证、多因素认证流程测试。

6.环境耐受性测试：高低温循环下安全功能稳定性测试、电压波动与毛刺攻击耐受性测试。

7.电磁兼容与信息泄漏测试：电磁辐射泄漏检测、功耗分析攻击防护测试、时序分析攻击防护测试。

8.故障注入攻击防护测试：电压故障注入耐受性、时钟故障注入耐受性、激光故障注入耐受性测试。

9.逻辑功能与接口安全测试：安全指令集功能验证、安全输入输出接口访问控制测试、调试接口禁用有效性验证。

10.生命周期安全管理测试：安全元件生产注入与个人化流程安全性测试、生命周期状态转换安全性测试、安全销毁机制验证。

检测范围

嵌入式安全芯片、可信平台模块、智能卡芯片、加密存储设备、硬件安全模块、生物识别传感器模块、物联网设备安全核心、支付终端安全元件、数字版权管理芯片、门禁系统安全控制器、车载网络安全网关、移动设备安全 enclave、服务器密码机核心板卡、工业控制系统安全模块、区块链硬件钱包、身份认证令牌、安全通信模组、智能电表安全芯片、穿戴设备生物识别单元

检测设备

1.微焦点X射线检测仪：用于无损检测安全芯片内部结构、引线键合完整性及是否存在物理篡改痕迹。

2.精密研磨与染色分析系统：通过逐层去除封装材料并进行染色，用于分析芯片的物理布局、识别硬件木马或异常结构。

3.高精度示波器与电流探头：采集安全元件运行时的功耗轨迹，用于执行简单功耗分析及差分功耗分析攻击与防护测试。

4.电磁近场探头与频谱分析仪：捕获安全元件运行时辐射的电磁信号，用于分析其与内部数据处理的相关性，测试电磁侧信道泄漏风险。

5.故障注入测试平台：通过精确控制电压、时钟信号或激光脉冲，对安全元件实施故障注入，以测试其错误检测与恢复机制的鲁棒性。

6.高低温湿热试验箱：提供精确控制的温度与湿度环境，用于测试安全元件在极端环境条件下其安全功能的稳定性与可靠性。

7.逻辑分析仪与协议分析仪：捕获并解析安全元件与外部主机之间的通信数据流，用于验证通信协议的安全性及指令执行的正确性。

8.专用加密算法测试工具：通过输入标准测试向量，验证安全元件内部实现的加密算法运算结果的正确性与一致性。

9.自动化安全测试平台：集成多种测试工具与接口，可对安全元件执行一系列预定义的物理攻击、侧信道攻击及功能测试用例。

10.扫描电子显微镜：提供纳米级的高分辨率成像，用于对芯片表面及截面进行微观形貌观察，辅助进行失效分析和逆向工程研究。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.