检测项目
1.能谱分布:迁移能级分布,能级密度变化,能谱宽度
2.载流子迁移:迁移率变化,迁移激活能,迁移稳定性
3.缺陷表征:陷阱能级,缺陷密度,复合中心分布
4.能级漂移:能级偏移量,漂移速率,漂移可逆性
5.电荷俘获:俘获效率,释放时间常数,俘获能深度
6.应力响应:应力应变关系,屈服行为,塑性区间
7.形变稳定:残余应变,形变回复率,循环稳定性
8.温度耦合:温度依赖能谱,温度依赖塑性,热激活响应
9.频率特性:频率响应能谱,频率相关损耗,频率稳定性
10.界面效应:界面能级分布,界面迁移阻抗,界面塑性影响
11.薄膜均匀:能谱均匀性,迁移一致性,塑性一致性
12.老化行为:能谱老化速率,塑性退化,性能衰减
检测范围
半导体薄膜、导电聚合物薄膜、氧化物功能层、器件活性层、异质结层、柔性基底材料、薄膜电极层、封装界面层、缓冲层材料、绝缘介质层、晶体材料片、纳米结构材料、复合功能材料
检测设备
1.能谱分析仪:用于测定迁移能级分布与能级密度变化
2.电输运测试系统:用于测量迁移率、激活能及电学稳定性
3.缺陷分析装置:用于表征陷阱能级与缺陷密度分布
4.应力应变测试机:用于获取应力应变关系与屈服行为
5.循环加载平台:用于测试塑性循环稳定与残余应变
6.温度控制测试舱:用于开展温度耦合能谱与塑性测试
7.频率响应测试装置:用于分析频率相关能谱与损耗特性
8.界面表征系统:用于解析界面能级分布与迁移阻抗
9.薄膜均匀性检测仪:用于测试能谱与迁移一致性
10.老化加速平台:用于开展能谱与塑性老化速率测试
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。