精密仪器分辨率测试

检测项目

1.光学分辨率测试：极限空间分辨率、调制传递函数、对比度灵敏度、像散校正、畸变测试、色差分析、场曲测量、渐晕效应、透射率、反射率、偏振特性、光斑尺寸、光束质量、波前误差、焦距精度等。

2.电子分辨率测试：模数转换精度、数字信号处理分辨率、噪声等效功率、信噪比、动态范围、线性度、偏置稳定性、增益一致性、采样率有效性、量化误差、时间分辨率、频率分辨率、相位噪声、抖动测量、时钟精度等。

3.机械分辨率测试：最小步进位移、定位重复性、轴向直线度、径向跳动、角度分辨率、扭矩灵敏度、力分辨率、振动影响、热漂移补偿、机械滞后、刚度测试、共振频率、磨损测试、润滑效果、装配公差等。

4.图像分辨率测试：像素间距、填充因子、探测效率、空间均匀性、时间响应、图像滞后、暗电流、饱和电荷、量子效率、非线性响应、图像失真、几何校正、色彩还原、白平衡、噪声频谱等。

5.光谱分辨率测试：波长准确性、带宽测量、光谱纯度、杂散光水平、分辨率元素、光通量、探测器响应、校准曲线、峰值检测、基线稳定性、信背比、积分时间优化、多通道一致性、波长重复性、光谱覆盖范围等。

6.温度分辨率测试：最小可辨温度差、温度稳定性、热响应时间、环境温度影响、自热效应、冷却效率、温度均匀性、热噪声、漂移校正、校准点验证、长期漂移、循环稳定性、极端温度性能、热循环耐久性、温度系数等。

7.压力分辨率测试：最小压力变化检测、压力线性度、滞后效应、重复性误差、温度补偿、过载恢复、动态响应、静态精度、零点漂移、满量程输出、灵敏度系数、长期稳定性、介质兼容性、密封性能、振动影响等。

8.时间分辨率测试：最小时间间隔测量、时钟抖动、触发延迟、同步精度、时间戳准确性、死时间校正、计数率线性、脉冲宽度分辨率、上升时间、下降时间、时间游走、时间膨胀效应、参考时钟稳定性、外部触发性能、内部时钟校准等。

9.空间分辨率测试：三维坐标精度、平面度测量、角度分辨率、体积扫描精度、点云密度、表面粗糙度影响、多轴同步、坐标系转换、误差映射、重复定位精度、绝对精度验证、环境补偿、动态误差、静态误差、热变形校正等。

10.信号分辨率测试：最小信号幅度检测、噪声基底、动态范围扩展、滤波器性能、带宽限制、信号完整性、阻抗匹配、反射损失、串扰抑制、共模抑制比、差分信号分辨率、时钟数据恢复、眼图分析、误码率测试、抖动容忍度等。

11.环境适应性分辨率测试：温度变化下的分辨率稳定性、湿度影响、气压波动、振动干扰、冲击耐受、电磁兼容性、静电放电效应、辐射环境、腐蚀气氛、粉尘污染、液体侵入防护、海拔高度影响、盐雾腐蚀、霉菌生长、日照老化等。

12.长期稳定性分辨率测试：连续运行下的分辨率漂移、校准周期验证、磨损导致的性能退化、材料老化影响、润滑剂失效、电子元件寿命、光学涂层耐久性、机械结构松弛、软件算法稳定性、数据存储可靠性、备份系统性能、故障预测、预防性维护间隔、退役测试指标等。

13.多参数综合分辨率测试：多物理场耦合下的分辨率表现、交叉灵敏度分析、参数交互影响、系统级校准、整体不确定性测试、黑箱测试、白箱测试、灰箱测试、模型验证、仿真对比、实际工况模拟、用户场景复现、极限条件测试、边界值分析、鲁棒性验证等。

14.软件与算法分辨率测试：数据处理算法精度、图像重建分辨率、信号去噪效果、特征提取能力、模式识别准确性、机器学习模型分辨率、深度学习网络性能、软件响应时间、用户界面显示分辨率、数据导出格式兼容性、算法优化效果、代码效率、内存占用、并行处理能力、实时性保证等。

15.安全与合规分辨率测试：电气安全分辨率、机械安全间距、辐射安全限值、化学泄漏检测、生物污染控制、隐私数据保护分辨率、网络安全漏洞检测、合规性标准符合度、法规要求满足性、认证测试覆盖度、风险测试分辨率、应急预案有效性、安全监控精度、报警阈值设置、故障安全模式分辨率等。

检测范围

光学显微镜、电子显微镜、扫描探针显微镜、光谱分析仪、质谱仪、色谱仪、坐标测量机、激光干涉仪、光学轮廓仪、表面粗糙度仪、振动分析仪、温度记录仪、压力传感器、位移传感器、图像传感器、示波器、信号发生器、频率计、数据采集系统、三维扫描仪。

检测方法/标准

国际标准：

ISO 9334、ISO 9335、ISO 10110、ISO 1JianCe6、ISO 12179、ISO 12233、ISO 15529、IEC 60068、IEC 61000、IEC 61215、IEC 61725、IEC 61910、IEC 62087、IEC 62108

国家标准：

GB/T 9246、GB/T 13962、GB/T 15478、GB/T 16857、GB/T 17626、GB/T 18268、GB/T 20234、GB/T 26111、GB/T 30001、GB/T 34065、GB/T 36079、GB/T 37079、GB/T 38660、GB/T 39665

检测设备

1.分辨率测试板：用于测试光学系统的极限分辨率，提供标准图案如西门子星、条纹靶标；材质为玻璃或金属，图案精度高，对比度可调。

2.光学平台与隔振系统：提供稳定的测试环境，减少振动干扰；平台表面平整度高，阻尼特性好，支持多种仪器安装。

3.标准光源与积分球：产生均匀、稳定的光照条件，用于光谱响应和颜色分辨率测试；光源色温可调，亮度可控。

4.高精度位移台与控制器：实现微米级或纳米级精确位移，用于机械分辨率测试；多轴运动，重复定位精度高。

5.信号发生器与示波器：生成和测量电子信号，用于时间分辨率和信号分辨率测试；带宽宽，采样率高，噪声低。

6.环境试验箱：模拟温度、湿度、振动等环境条件，测试环境适应性分辨率；温度范围广，控制精度高。

7.数据采集与分析系统：实时采集测试数据，进行信号处理和分析；多通道同步，软件算法丰富。

8.校准用标准器：如标准尺、标准砝码、标准温度计等，用于仪器校准和分辨率验证；溯源性好，不确定度低。

9.图像处理工作站：专门用于图像分辨率测试，运行图像分析软件；计算能力强，显示分辨率高。

10.综合测试系统：集成多种测试功能，自动化执行分辨率测试序列；模块化设计，可扩展性强。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.