硅橡胶尺寸检测

检测项目

1.基础长度尺寸：总长度，段长，边长，高度，深度。

2.厚度与壁厚：片材厚度，局部厚度，平均壁厚，最小壁厚，厚度差。

3.外径与内径：外径尺寸，内径尺寸，内外径差，同轴部位直径，阶梯直径。

4.孔类尺寸：通孔孔径，盲孔孔径，沉孔直径，孔深，孔间距。

5.槽类尺寸：槽宽，槽深，槽底圆角，槽口尺寸，槽距。

6.截面尺寸：截面宽度，截面高度，截面直径，截面圆度，截面一致性。

7.边缘与圆角：圆角半径，倒角尺寸，边缘厚度，飞边尺寸，修边余量。

8.间距与位置：中心距，边距，定位点间距，安装孔位置，基准偏移。

9.形状偏差：平面度，直线度，圆度，圆柱度，轮廓偏差。

10.位置偏差：同轴度，同心度，对称度，垂直度，平行度。

11.装配相关尺寸：配合尺寸，压缩后尺寸，嵌装尺寸，接触面尺寸，限位尺寸。

12.变形尺寸稳定性：受压后尺寸变化，拉伸后尺寸变化，回弹后尺寸恢复，热处理后尺寸变化，储存后尺寸漂移。

检测范围

硅橡胶密封圈、硅橡胶垫片、硅橡胶管、硅橡胶条、硅橡胶板、硅橡胶膜片、硅橡胶塞、硅橡胶套、硅橡胶缓冲垫、硅橡胶按键、硅橡胶密封垫、硅橡胶异形件、硅橡胶圈带、硅橡胶接头护套、硅橡胶防尘罩、硅橡胶导电件、硅橡胶绝缘护套、硅橡胶包覆件

检测设备

1.游标卡尺：用于测量外径，内径，长度，宽度和深度等常规尺寸，适合快速检验与现场复核。

2.千分尺：用于测量厚度，壁厚及小尺寸直径，分辨能力较高，适用于精细尺寸控制。

3.高度尺：用于测量高度尺寸，台阶差和基准面的相对位置，可配合平台进行定位测量。

4.厚度计：用于测定片材，薄膜及柔性制品厚度，适合硅橡胶软质样品的快速检测。

5.内径量表：用于测量孔径和内腔尺寸，可用于测试孔类结构的一致性与配合状态。

6.外径测量仪：用于测量圆形制品外径及截面尺寸，适用于管材，圈类和轴对称部件。

7.投影测量仪：用于检测轮廓，角度，圆角和孔距等几何尺寸，适合复杂外形样品的放大测量。

8.影像测量仪：用于非接触测量平面尺寸，位置关系和形状偏差，适用于微小与异形制品检测。

9.三坐标测量机：用于测定复杂制品的空间尺寸和几何偏差，可完成多基准综合尺寸分析。

10.平面工作台：用于提供稳定测量基准面，辅助完成平面度，高度及位置尺寸的比对测量。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.