检测项目
1.晶体结构鉴定:点阵常数测定,空间群判定,原子坐标解析。
2.物相定性分析:多相材料识别,未知物相鉴定,物相纯度测试。
3.晶体取向分析:单晶取向测定,多晶织构分析,晶界性质研究。
4.微观缺陷观测:位错密度评价,孪晶结构分析,堆垛层错检测。
5.纳米材料表征:纳米颗粒粒径分布,微晶尺寸测量,结晶度分析。
6.界面结构解析:异质结界面匹配,薄膜与衬底外延关系,界面应力评价。
7.选区衍射分析:微米级区域结构定位,特定晶粒结构解析,微小夹杂物鉴定。
8.高分辨结构成像:原子级形貌观察,晶格条纹间距测量,原子占位分析。
9.相变过程研究:原位加热结构演变,压力诱导相变观测,冷却过程组织鉴定。
10.表面结构分析:薄膜表面重构检测,吸附层结构判定,表面晶格畸变评价。
11.磁性材料微观结构:磁畴结构观察,磁性颗粒排列分析,磁性相分布检测。
12.催化材料表征:活性组分分布,载体晶格匹配,催化剂中毒结构变化。
检测范围
金属材料、合金钢、特种陶瓷、半导体薄膜、纳米粉末、复合材料、矿物岩石、超导材料、电子封装材料、催化剂、石墨烯、碳纳米管、航空铝材、耐火材料、磁性材料、生物矿化组织、光电材料、硬质合金
检测设备
1.透射电子显微镜:用于获取高对比度的电子衍射花样及高分辨晶格图像。
2.扫描透射电子显微镜:实现原子级空间分辨率的结构分析与成分映射。
3.电子探针显微分析仪:结合微区成分分析进行精确的物相鉴定。
4.离子减薄仪:通过高能离子束剥离制备符合透射要求的超薄样品。
5.双喷电解抛光仪:利用电化学原理减薄金属减薄试样至电子透明状态。
6.超薄切片机:对软质材料或生物样本进行纳米级厚度的切片加工。
7.真空涂层机:在不导电样品表面覆盖均匀导电层以消除电荷积累。
8.等离子体清洗器:清除样品表面有机污染物以提升衍射图像质量。
9.精密切割机:将大尺寸块体材料加工为适合后续减薄的微小薄片。
10.电子衍射花样模拟系统:对采集的衍射数据进行理论计算与晶体模型比对。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。