衍射测试

检测项目

1.相组成分析：物相识别，组分含量估算，相变判定。

2.晶体结构解析：晶型判定，晶格参数测定，空间对称性确认。

3.晶粒尺寸测试：平均晶粒尺度估算，尺寸分布趋势判断，细化程度评定。

4.微观应变测定：晶格畸变分析，残余应力推断，应变分布测试。

5.织构分析：取向分布判别，织构强度测试，取向变化比较。

6.结晶度测定：结晶度计算，非晶含量估算，结晶行为测试。

7.杂相与杂质判定：杂相识别，杂质含量估算，污染来源排查。

8.相稳定性测试：热处理前后相对比，环境作用相变化，长期稳定性判断。

9.层间距测定：层状结构间距计算，层间距变化分析，插层效应测试。

10.表面涂层结构评定：涂层相组成，涂层结晶度，涂层结构一致性。

11.矿物组成分析：矿物相识别，含量估算，混合矿物判定。

12.反应产物判定：反应相识别，生成相比例估算，反应程度测试。

检测范围

金属粉末、合金锭、陶瓷坯体、陶瓷烧结体、水泥熟料、石膏制品、玻璃粉体、耐火材料、矿石样品、岩石薄片、混凝土芯样、涂层样品、催化剂载体、碳材料、磁性材料、半导体材料、聚合物结晶样品

检测设备

1.衍射仪：用于获取衍射图谱，实现相组成与结构分析。

2.样品制备压片机：用于粉末压制成形，保证样品均匀性。

3.研磨设备：用于样品细化与均匀混合，提升测定稳定性。

4.筛分设备：用于粒径分级，控制样品颗粒范围。

5.加热附件：用于升温条件下的衍射测定，分析相变行为。

6.低温附件：用于低温条件测定，测试结构稳定性。

7.样品旋转装置：用于减少取向效应，提高数据代表性。

8.薄膜样品台：用于薄膜与涂层样品的衍射测量。

9.数据处理工作站：用于图谱解析、峰形拟合与参数计算。

10.环境控制装置：用于控制湿度与气氛，保证测试条件一致。

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.