中析研究所旗下CMA实验室进行的氧化铝检测，可测样品：纳米氧化铝、氧化铝颗粒、氧化铝棒等，会为您提供颗粒大小、机械强度、透明度等检测服务，并出具严谨、合规、标准的第三方检测报告。标准参考:GB 30181-2013 微晶氧化铝陶瓷研磨球单位产品能源消耗限额、BB/T 0089-2022 包装用镀氧化铝薄膜、DB37/749-2007 氧化铝综合能耗限额等。
检测范围
纳米氧化铝、超细氧化铝、改性氧化铝、氧化铝层析柱、氧化铝陶瓷、氧化铝砖、氧化铝颗粒、氧化铝纤维、氧化铝粉末、氧化铝球、氧化铝板、氧化铝管、氧化铝棒、氧化铝异型材等。
检测项目
颗粒大小、比表面积、晶相组成、化学组成、杂质含量、热稳定性、机械强度、抗压强度、耐磨性、耐腐蚀性、电性能、热导率、吸水性、透明度等。
技术相关、费用详情或其他测试项目请咨询工程师!
参考周期:常规测试7-15工作日,加急测试5个工作日.
检测仪器(部分)：
电子天平、X射线衍射仪、红外光谱仪、激光粒度分析仪、比表面积测量仪等。
检测方法(部分)：
X射线衍射法：使用X射线衍射仪等设备对氧化铝的晶体结构进行检测，以确认其纯度和晶体结构。
红外光谱法：使用红外光谱仪等设备对氧化铝的化学结构进行检测，以确认其纯度和化学结构。
比表面积测试法：使用比表面积测试仪等设备对氧化铝的比表面积进行测试，以检测其比表面积是否符合标准要求。
粒度分析法：使用粒度分析仪等设备对氧化铝的粒度进行测试，以检测其粒度是否符合标准要求。
化学分析法：使用化学分析仪等设备对氧化铝的化学成分进行检测，以确认其化学成分是否符合标准要求。
参考标准
GB 30181-2013 微晶氧化铝陶瓷研磨球单位产品能源消耗限额
GB/T 14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
GB/T 15057.7-1994 化工用石灰石中氧化铝含量的测定 铬天青S分光光度法
GB/T 15154-1994 电子陶瓷用氧化铝粉体材料
GB/T 27979-2011E 氧化铝耐磨陶瓷复合衬板(英文版)
BB/T 0089-2022 包装用镀氧化铝薄膜
DB12/ 046.20-2011 产品单位产量综合能耗计算方法及限额 第20部分：氧化铝型材
DB15/T 925-2015 单一稀土氧化物中非稀土杂质化学分析方法 电感耦合等离子体质谱法测定氧化铝、氧化铬、氧化锰、氧化钴、氧化镍、氧化铜、氧化锌、氧化铅、氧化镉和氧化砷含量
DB15/T 926-2015 电感耦合等离子体发射光谱法测定混合稀土产品中的氧化铝量
DB37/749-2007 氧化铝综合能耗限额
DB53/T 639.1-2014 直接还原铁化学分析方法 第1部分：氧化钙、氧化镁、氧化铝含量的测定 EDTA滴定法
DBl2/046.20-2008 氧化铝型材工序能耗计算方法及限额
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
服务优势
1、实验室拥有CMA资质，可承接大型检测、高科技试验认证。
2、初检样品，与您讨论项目详情，制定详细的实验方案。
3、实验室提供编写MSDS报告以及TDS报告服务。
4、检测试验领域广，适用标准包括国标、行标、企标、地标，也可进行非标试验。
5、周期短，费用低，方案全。
6、支持定制化试验方案，数据更加科学准确。
7、全国上门取样/现场见证试验。
8、资质全，团队强，后期服务体系完善。
9、在线工程师一对一服务。
测试流程
1、与工程师沟通，确定具体的试验方案，我方报价；
2、双方签订委托书，我方接收样品；
3、进行细节沟通，我方进行试验测试；
4、试验测试完成，出具检测测试报告；
5、委托完成，我方提供售后服务。
仪器设备(部分)
包括但不限于：
1、可程式高低温试验箱、电液伺服动静疲劳试验机、电感耦合等离子光谱发生仪；
2、氦质谱检漏仪、微机控制电液伺服万能试验机、液相色谱质谱联用仪；
3、氙灯老化机、紫外老化机、原子吸收光谱仪、红外测油仪、全谱高分辨率光谱仪；
4、原子荧光分光光度计、离子色谱仪、紫外可见分光光度计、二氧化碳培养箱；
5、氙灯老化机、紫外老化机、原子吸收光谱仪、气相色谱仪、实验动物全身吸入暴露系统等。
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作，并获得众多好评；
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领；
3、坚持科学发展道路，统筹实验建设与技术人才培养共同发展；
4、学习贯彻二十大精神，努力发展自身科技实力。
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