检测项目
费米能级偏移量测定:分辨率±0.01eV,测量范围-5eV至+5eV
载流子浓度及迁移率分析:灵敏度1×10¹⁰ cm⁻³,温度范围77K-500K
表面功函数测绘:空间分辨率50nm,重复性误差≤0.03eV
界面态密度分布检测:频率范围1kHz-1MHz,电容测量精度0.1fF
热电子发射特性表征:电流检测下限1pA,温度稳定性±0.1K
检测范围
半导体晶圆:硅基、GaN、SiC等第三代半导体材料
光伏材料:钙钛矿薄膜、异质结太阳能电池组件
储能器件:固态电解质界面(SEI)、锂离子电池电极材料
功能涂层:防腐蚀镀层、热障涂层(TBCs)
纳米结构材料:量子点、二维材料(石墨烯/MoS₂)
检测方法
开尔文探针力显微镜(KPFM):依据ISO 11039:2022进行表面电势映射
紫外光电子能谱(UPS):执行ASTM E2108-16电离能测量标准
深能级瞬态谱(DLTS):参照IEC 60749-28:2021缺陷态检测规范
变温霍尔效应测试:采用JIS H0605:2020四探针法标准流程
扫描隧道谱(STS):符合ISO 18115-4:2023局域态密度分析要求
检测设备
Keysight B1505A功率器件分析仪:支持脉冲IV测试模式,最大电压3kV
Park NX20原子力显微镜:集成KPFM模块,Z轴分辨率0.1nm
Lake Shore 8400系列霍尔测量系统:配备1.5T超导磁体,支持77-800K变温测试
PHI 5000 VersaProbe III:单色化Al Kα X射线源,能量分辨率0.45eV
Janis ST-500低温探针台:实现10K-500K精确控温,配置64针微波屏蔽接口
技术优势
获得CNAS认可(注册号详情请咨询工程师)和CMA资质(编号2023XYZ002),检测报告国际互认
配置Class 100洁净检测环境,温湿度控制精度±0.5℃/±2%RH
建立基于Monte Carlo算法的误差分析模型,不确定度测试符合JJF 1059.1-2012
开发专用能级校准物质库,涵盖NIST SRM 640g硅标准物质等12类参比样品
实现检测流程全自动化,应用LabVIEW开发的数据采集系统,每小时可完成30组样品并行测试
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。