平行面检测

检测项目

平面度公差检测：测量基准面与理想平面的最大偏差，公差范围0.001-0.1mm

平行度误差检测：测试两平面轴线间距的最大波动量，公差带0.005-0.05mm

表面粗糙度分析：采用Ra/Rz参数表征微观不平度，测量范围Ra 0.01-3.2μm

垂直度关联检测：验证被测面与基准轴线的正交关系，允许误差≤0.02mm/100mm

对称度验证：检测对称平面与基准中心的偏移量，公差要求±0.03mm

检测范围

金属加工件：包括模具模板、液压阀块、精密导轨等锻铸件

光学元件：棱镜基面、激光反射镜、光学平台等超精加工面

工程塑料制品：注塑成型的分型面、密封端面等聚合物组件

陶瓷基板：电子封装基板、半导体载体的烧结平面

复合材料构件：碳纤维层压板、金属基复合材料的结合面

检测方法

平面度测量：依据GB/T 11337-2004《平面度误差检测》，采用对角线法或最小区域法评定

平行度检测：按ISO 1101:2017规定，使用精密测长机配合电感测头进行多点扫描

粗糙度测试：执行ASTM D7127-17标准，接触式轮廓仪采样长度0.25-8.0mm

垂直度验证：遵循GB/T 1958-2017，通过直角规与塞尺组合测量法实施

非接触检测：依据ISO 25178-2:2022，采用白光干涉仪进行三维形貌重建

检测设备

三坐标测量机：Mitutoyo CRYSTA-Apex S 型号，空间测量精度(1.9+3L/1000)μm

激光干涉仪：Renishaw XL-80系统，线性分辨率0.001μm，用于平面度基准构建

光学平面仪：Taylor Hobson Talyrond 565，实现Φ600mm工件的平面波纹度分析

表面粗糙度仪：Mahr MarSurf LD 260，配备2μm半径金刚石测针，符合ISO 4288规范

万能工具显微镜：Nikon MM-400，数字成像系统测量精度±0.5μm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.