检测项目
1.纯度测定:采用差示扫描量热法(DSC)测定主成分含量≥99.5%
2.杂质元素分析:通过ICP-MS检测Al、Fe、Si等13种金属杂质总量≤500ppm
3.晶体结构表征:XRD分析晶型匹配度(JCPDS00-030-0873)偏差≤0.5
4.热稳定性测试:TG-DSC联用测定分解温度≥450℃
5.粒度分布:激光衍射法测定D50粒径范围1.5-3.0μm
检测范围
1.电子陶瓷材料中的掺杂剂
2.氟化反应催化剂载体
3.光学镀膜用高纯靶材
4.锂离子电池正极前驱体
5.特种合金添加剂
检测方法
ASTME1584-17《标准测试方法用于火花原子发射光谱分析》
ISO14720-1:2013《非金属粉末中硫含量的测定》
GB/T23942-2009《化学试剂电感耦合等离子体原子发射光谱法通则》
ASTME975-13《X射线衍射法测定残余应力的标准方法》
GB/T19077-2016《粒度分析激光衍射法》
检测设备
1.RigakuSmartLabX射线衍射仪:用于晶体结构分析和物相鉴定
2.Agilent7900ICP-MS:痕量金属杂质元素定量分析
3.MalvernMastersizer3000激光粒度仪:粒径分布及比表面积测定
4.NetzschSTA449F3同步热分析仪:热重-差热联用分析
5.BrukerS8TIGER波长色散X荧光光谱仪:主量元素快速筛查
6.PerkinElmerPinAAcle900T原子吸收光谱仪:特定元素精确测定
7.HitachiSU8010场发射扫描电镜:微观形貌观察及EDS成分分析
8.Metrohm905Titrando自动电位滴定仪:氟离子含量测定
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。