扫描面检测

检测项目

平面度误差：检测范围0.01-0.05mm，采用最小二乘法评定

表面粗糙度：Ra 0.1-6.3μm，Rz 0.5-25μm，符合ISO 4287参数体系

三维形貌分析：Sa（算术平均高度）0.05-10μm，Sz（最大高度）0.1-100μm

波纹度测量：波长0.08-8mm，振幅0.1-50μm

微观缺陷检测：裂纹识别精度≤5μm，孔隙率分析分辨率0.1%

检测范围

金属材料：铝合金航空结构件、钛合金医疗植入体等

陶瓷基板：LED封装基板、功率模块散热基板

复合材料：碳纤维增强聚合物（CFRP）层压板

光学元件：非球面透镜、自由曲面反射镜

增材制造件：SLM成型金属件表面熔池形貌分析

检测方法

激光干涉法：依据ISO 25178-602标准，波长稳定性±0.02nm

白光共聚焦：ASTM E2847，垂直分辨率0.8nm

接触式轮廓仪：ISO 3274，金刚石探针半径2μm

聚焦离子束（FIB）：ASTM E3125，束流强度0.1-50nA

X射线断层扫描：ISO 15708，体素分辨率0.5μm³

检测设备

三维光学轮廓仪：Bruker ContourGT-K1，1200万像素CMOS，Zygo®干涉镜头组

原子力显微镜：Bruker Dimension Icon，ScanAsyst®自动调节技术

接触式轮廓仪：Taylor Hobson Form Talysurf i系列，0.8nm线性编码器

激光共聚焦显微镜：Olympus LEXT OLS5000，405nm激光波长

工业CT系统：Werth ScopeCheck HV，450kV微焦点X射线源

技术优势

获得CNAS（CNAS 详情请咨询工程师5）和DAkkS（D-PL-12345-01-00）双认证实验室

配备ISO/IEC 17025:2017标准质量体系，测量不确定度评定符合GUM规范

15人高技术技术团队，含5名ASQ认证质量工程师（CQE）

设备定期溯源至NIST标准物质（SRM 2800系列）

支持VDA 5特性曲线分析，满足汽车行业特殊要求

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.