谱幅检测

检测项目

表面厚度检测：测量范围0.1μm-10mm，分辨率达±0.5nm（台阶仪模式）

元素分布分析：检测精度≤0.01wt%，空间分辨率1μm（EDS/WDS联用）

晶格畸变检测：角度分辨率0.0001°，应变测量误差<0.02%（XRD法）

表面粗糙度检测：Ra值测量范围1nm-100μm，扫描速度50mm/s（白光干涉仪）

薄膜应力分析：测量灵敏度0.1MPa，曲率半径检测精度±0.5m（激光翘曲法）

检测范围

金属材料：铝合金镀层、钛合金基板、铜合金薄膜等

高分子材料：聚合物涂层、光学胶膜、封装材料等

半导体材料：硅外延片、GaN衬底、OLED功能层等

陶瓷材料：压电陶瓷、热障涂层、结构陶瓷等

生物材料：医用植入体涂层、生物传感器薄膜等

检测方法

ASTM E252：薄膜厚度测量的标准试验方法（接触式探针法）

ISO 3497：金属镀层厚度测量的X射线光谱法

ASTM E1078：表面粗糙度测量的扫描探针显微术标准

ISO 14707：辉光放电光谱法测定表面成分

JIS H 8686：阳极氧化膜连续性检测的硫酸铜试验法

检测设备

KLA-Tencor P-7：全自动台阶仪，支持0.1nm级台阶高度测量

Bruker D8 ADVANCE：高分辨率X射线衍射仪，配备二维探测器

Zeiss SIGMA 500：场发射扫描电镜，搭配牛津EDS能谱系统

Veeco NT9100：白光干涉三维形貌仪，最大扫描面积100×100mm

Horiba LabRAM HR：共焦拉曼光谱仪，空间分辨率达300nm

技术优势

CNAS认可实验室（注册号详情请咨询工程师），检测数据国际互认

配置Class 100洁净检测室，温控精度±0.5℃

15人技术团队含3名材料学博士，年均完成检测案例2000+

通过ISO/IEC 17025体系认证，设备年校准率100%

建立材料数据库涵盖300+种材料特性参数

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.