公称化学组分检测

检测项目

元素含量检测：包含碳（C）、硅（Si）、锰（Mn）等主量元素及微量元素（如钒、钛）的定量分析，检测精度达0.001%-99.99%

杂质含量检测：检测硫（S）、磷（P）、氧（O）等有害杂质，浓度范围0.0001%-0.5%

相组成分析：确定材料中α相、β相、碳化物相等微观结构占比，误差≤1%

表面化学成分检测：通过深度剖析（0.1nm-10μm）测试镀层或涂层的元素分布

晶体结构分析：测定晶格常数（精度±0.001Å）及晶体取向偏差（≤0.5°）

检测范围

金属材料：铝合金（如6061、7075）、不锈钢（304、316L）、钛合金（TC4、TA2）

高分子材料：聚乙烯（PE）、聚丙烯（PP）、聚碳酸酯（PC）

无机非金属材料：陶瓷（Al₂O₃、SiC）、玻璃（钠钙玻璃、硼硅玻璃）

电子材料：半导体晶圆（Si、GaAs）、焊锡合金（SAC305、Sn63Pb37）

化工产品：催化剂（Pt/C、分子筛）、涂料（环氧树脂、聚氨酯）

检测方法

电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）：ASTM E1479、GB/T 20975.25-2020

X射线荧光光谱法（XRF）：ISO 3497、GB/T 16597-2019

火花直读光谱法：ASTM E415、GB/T 4336-2016

扫描电子显微镜-能谱联用（SEM-EDS）：ISO 22309、GB/T 17359-2022

X射线衍射分析（XRD）：ISO 20203、GB/T 8362-2021

检测设备

Thermo Fisher iCAP 7400 ICP-OES：多元素同步检测（检出限0.1ppb-10ppm）

Bruker S8 TIGER XRF：波长色散型，可测元素范围Be-U

ARL 4460火花直读光谱仪：分析时间≤20秒，重复性RSD＜0.5%

Hitachi SU5000 SEM-EDS系统：分辨率1.0nm@15kV，元素面分布成像

Bruker D8 ADVANCE XRD：2θ角度范围5°-165°，步长0.0001°

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.