硫化铷检测

检测项目

化学成分分析：铷含量（≥99.5%）、硫含量（32.5-33.8%）、杂质元素（Fe≤0.005%、Cu≤0.003%、Na≤0.01%）

物理性质检测：密度（2.91-3.02 g/cm³）、熔点（>800℃）、热稳定性（300℃失重率≤0.5%）

纯度检测：总杂质含量（≤0.5%）、主成分纯度（XRD半峰宽≤0.15°）

结构表征：晶体结构（立方晶系参数a=6.85±0.03Å）、表面形貌（SEM粒径分布1-5μm）

稳定性测试：湿热试验（40℃/95%RH下72h质量变化≤0.2%）、高温氧化（600℃/4h氧化增重≤0.3%）

检测范围

电子级硫化铷半导体材料

光学镀膜用高纯硫化铷靶材

锂电池固态电解质前驱体材料

工业催化剂用硫化铷复合物

科研用硫化铷纳米粉末（粒径≤100nm）

检测方法

ASTM E1941-10：电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）测定金属杂质

ISO 11885:2007：水质-电感耦合等离子体质谱法（ICP-MS）检测痕量元素

GB/T 17432-2012：有色金属材料化学成分分析通则

GB/T 4334-2020：金属材料高温氧化试验方法

ISO 18754:2020：精细陶瓷密度测定方法

ASTM D2865-17：X射线衍射法定量分析晶体结构

检测设备

Thermo Scientific iCAP 7400 ICP-OES：多元素同步分析，检测限0.1ppm

Malvern Panalytical Empyrean X射线衍射仪：θ-θ测角仪，Cu靶Kα辐射源

Mettler Toledo TGA/DSC 3+热重分析仪：温度范围25-1600℃，分辨率0.1μg

JEOL JSM-IT800扫描电镜：冷场发射源，分辨率1.0nm@15kV

Agilent 7900 ICP-MS：质量范围2-270amu，检出限0.01ppb

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.