极化椭圆检测

检测项目

椭圆率角测量：波长范围300-1500 nm，精度±0.5°

方位角测定：分辨率0.01°，重复性±0.05°

相位延迟检测：测量范围0-360°，误差≤0.3°

消光比测试：动态范围10⁻⁶-10²，波长精度±0.2 nm

薄膜厚度分析：测量范围1-5000 nm，分辨率0.1 nm

检测范围

光学薄膜：增透膜、反射膜、滤光片等镀膜器件

液晶材料：LCD显示面板、LCoS微显示芯片

光纤器件：保偏光纤、光纤布拉格光栅

半导体材料：硅晶圆、III-V族化合物外延层

生物医学材料：蛋白质膜层、细胞膜双折射分析

检测方法

ASTM E903-12：材料光谱反射比与透射比标准测试

ISO 13696:2002：光学元件散射特性测量方法

GB/T 26312-2010：光学薄膜偏振特性测试规范

IEC 61300-3-51：光纤器件偏振相关损耗测试

GB/T 36540-2018：液晶显示模组光学性能检测

检测设备

J.A. Woollam M-2000UI：宽光谱（190-1700 nm）旋转补偿型椭偏仪，支持Mueller矩阵测量

Sentech SE850：紫外-近红外双光路椭偏系统，配备5轴自动样品台

HORIBA UVISEL 2：真空紫外椭偏仪，可测深紫外至近红外波段（140-2100 nm）

Ellitop-3D：三维纳米结构表征系统，空间分辨率达1 μm

Agilent 8509C：光波元件分析仪，支持50 MHz-110 GHz高频调制测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.