检测项目
1. 表面粗糙度检测:Ra值范围0.05-6.3μm,Sa参数精度±0.01μm 2. 厚度偏差检测:测量范围0.1-50mm,分辨率0.001mm 3. 三维形貌分析:Z轴重复精度≤0.5μm,扫描速度200mm/s 4. 内部缺陷识别:最小可检缺陷尺寸Φ0.1mm,深度分辨率0.05mm 5. 材料成分分布:元素分析精度±0.1wt%,空间分辨率10μm
检测范围
1. 金属材料:铝合金、钛合金锻件(航空发动机叶片、汽车结构件) 2. 复合材料:碳纤维增强塑料(CFRP)层压板、陶瓷基复合材料(CMC) 3. 电子元件:PCB板焊点、芯片封装结构 4. 光学薄膜:防反射涂层、柔性显示基材 5. 高分子材料:医用级聚乙烯关节假体、密封橡胶件
检测方法
1. 表面粗糙度:ISO 4287-1997/GB/T 3505-2009 2. 厚度测量:ASTM B499-09(涡流法)、GB/T 11344-2021(超声波法) 3. 三维形貌重建:ISO 25178-2:2022(非接触式光学测量) 4. 缺陷检测:ASTM E2732-18(工业CT扫描)、ISO 17635:2016(焊接缺陷评定) 5. 成分分析:GB/T 20123-2006(激光诱导击穿光谱法)、ISO 15632:2021(微区X射线荧光)
检测设备
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。