带谱分析检测

检测项目

成分分析（元素含量0.001%~99.999%，检出限≤1ppm）

晶体结构表征（晶格常数0.1-10nm，晶粒尺寸10nm-500μm）

涂层/镀层厚度测量（0.1μm-5mm，精度±0.05μm）

表面缺陷检测（裂纹分辨率≤0.5μm，孔隙率0.01%-30%）

热稳定性分析（温度范围-196℃~1600℃，升温速率0.1-100℃/min）

检测范围

金属材料：铝合金、钛合金、高温合金、特种钢材

高分子材料：工程塑料、橡胶制品、复合材料粘接层

电子元件：半导体晶圆、PCB板镀层、焊点结构

陶瓷材料：氧化铝基陶瓷、碳化硅涂层、压电陶瓷

能源材料：锂离子电池极片、燃料电池催化剂、光伏薄膜

检测方法

X射线荧光光谱法：ASTM E1508-12(2020)、GB/T 223.79-2022

X射线衍射分析法：ISO 19657:2017、GB/T 8362-2018

扫描电子显微镜法：ASTM E2809-22、GB/T 17359-2023

超声波测厚法：ISO 16809:2017、GB/T 11344-2021

热重-差示扫描量热法：ASTM E1269-23、GB/T 19466.3-2022

检测设备

X射线荧光光谱仪：Thermo Scientific ARL PERFORM'X（元素分析范围Be-U，检测限0.1ppm）

场发射扫描电镜：ZEISS GeminiSEM 500（分辨率0.6nm@15kV，放大倍数12-2,000,000×）

X射线衍射仪：Bruker D8 ADVANCE（2θ范围-110°~168°，角度精度±0.0001°）

超声波测厚仪：Olympus 38DL PLUS（测量范围0.63-508mm，声速范围250-9999m/s）

同步热分析仪：NETZSCH STA 449 F5 Jupiter（称重精度0.1μg，温度精度±0.1℃）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.