检测项目
波距测量:检测相邻波峰间距,测量范围0.1-5mm,精度±0.5μm
波峰/波谷间距:检测相邻波峰与波谷的水平距离,分辨率0.02mm
波深分析:测量波峰与波谷垂直高度差,量程0.01-2.5mm
波纹度评定:按ISO 12085标准计算波纹度参数Wa/Wt值
波长分布统计:基于FFT分析波长频率分布,统计主波长占比
检测范围
金属板材:冷轧钢板、铝合金板(厚度0.3-6mm)
复合材料:碳纤维层压板、玻璃纤维增强塑料
塑料薄膜:BOPP膜、PET膜(厚度10-500μm)
光学元件:衍射光栅、菲涅尔透镜(周期结构20-2000μm)
电子基板:PCB铜箔线路、FPC柔性电路(线宽50-500μm)
检测方法
接触式测量:ASTM E284表面纹理分析,GB/T 12767金属波纹度检测
光学干涉法:ISO 25178-604非接触三维表面测量
激光扫描法:ISO 4287/4288表面粗糙度扩展应用
显微成像法:GB/T 29545光学元件波距检测规范
X射线衍射:ASTM E2387晶体材料周期结构分析
检测设备
Taylor Hobson PGI 1240:接触式轮廓仪,量程120mm,垂直分辨率1nm
Mitutoyo Surftest SJ-410:便携粗糙度仪,波长滤波范围0.08-2.5mm
Bruker ContourGT-K:白光干涉仪,XYZ轴分辨率0.1nm/0.1μm
Zeiss O-INSPECT 322:复合式测量机,光学探针精度0.8+L/200μm
Keyence VK-X1000:激光显微镜,最大扫描面积25×25mm,Z轴重复性5nm
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。