检测项目
1. 芯径与包层直径:芯径50±3μm,包层直径125±2μm(IEC 60793-1-20) 2. 数值孔径(NA):0.20±0.015(TIA-455-177B) 3. 带宽(模式带宽):≥500 MHz·km(850nm波长,GB/T 12357.1) 4. 衰减系数:≤3.0 dB/km(850nm)、≤1.0 dB/km(1300nm)(ISO/IEC 11801) 5. 弯曲损耗:半径15mm缠绕10圈,附加损耗≤0.5dB(IEC 60793-1-47)
检测范围
1. 室内布线用OM3/OM4/OM5多模光纤 2. 数据中心高速互连光纤组件 3. 工业自动化控制光纤系统 4. 医疗设备内窥镜用光纤束 5. 军事通信特种耐候光纤
检测方法
1. 几何参数检测:IEC 60793-1-20、GB/T 15972.20(近场扫描法) 2. 数值孔径测试:TIA-455-177B(远场光强分布法) 3. 带宽测试:TIA-455-220-A(时域脉冲法) 4. 衰减系数测定:ISO/IEC 14763-3(截断法) 5. 机械性能测试:IEC 60793-1-30(拉伸强度与疲劳测试)
检测设备
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。