检测项目
切换时间:响应延迟≤0.5μs,恢复时间≤1.2μs
接触阻抗:DC阻抗≤50mΩ,接触电阻波动范围±5%
信号衰减:高频段(≥10MHz)衰减量≤-3dB
温升特性:额定电流下温升≤25℃(GB/T 2423.22)
机械寿命:≥1×10⁸次循环(ISO 14762:2018)
检测范围
硬盘驱动器读写磁头组件
工业级磁感应传感器核心单元
医疗MRI设备磁头阵列模块
航空航天导航系统磁敏感元件
高密度数据存储磁带机磁头组
检测方法
ASTM F2504-08:磁头动态响应特性测试
IEC 60404-13:磁滞回线及剩磁检测
GB/T 18310.21:高频信号完整性验证
ISO 14762:2018:机械耐久性试验程序
JIS C 5402-23:环境应力筛选(ESS)标准
检测设备
Keysight B1500A半导体分析仪:0.1fA-1A/0.5μV-200V精度
Tektronix DPO70404C示波器:4GHz带宽,40GS/s采样
Thermotron 9800系列温箱:-70℃~+180℃循环控制
Schlumberger SI-1260阻抗分析仪:10μHz-32MHz频率范围
Taber 5750线性摩擦试验机:最大60Hz往复频率
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。