检测项目
热斑温差范围:单组件内异常区域与正常区域温差≥5℃
温度分布均匀性:组件表面温差控制在±5℃以内(STC条件下)
局部过热阈值:单点温度超过环境温度+30℃判定为故障
热斑面积占比:异常区域面积不超过组件总面积的2%
温度梯度变化率:相邻像素点温差不超过3℃/cm²
检测范围
单晶硅/多晶硅光伏组件(含PERC、HJT等新型结构)
薄膜太阳能电池组件(CIGS、CdTe等)
双玻组件与轻量化柔性组件
屋顶分布式电站用微型逆变器配套组件
大型地面电站用72/144片电池串列组件
检测方法
IEC TS 60904-13:2018《光伏器件第13部分:红外热成像测量》
ISO 19347:2015《光伏系统性能监测指南》第6.3节热异常检测
GB/T 34933-2017《光伏组件红外热成像检测方法》
ASTM E1934-19a《红外热成像系统测量标准指南》
EN 61730-1:2007《光伏组件安全鉴定》附录C热斑测试要求
检测设备
FLIR T865红外热像仪:3840×2160分辨率,测温范围-40°C~1500°C,热灵敏度≤0.03°C
Testo 885-2高技术型热像仪:640×480像素,配备25°×19°广角镜头,支持温差报警功能
Hikmicro B20手持式热像仪:256×192分辨率,集成GPS定位与数据标记功能
SENTECH STC-902太阳辐照度计:测量范围0-2000W/m²,精度±3%
CAMPBELL CR1000X数据采集器:同步记录环境温湿度、风速等辅助参数
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。