光学镜片缺陷设备检测

检测项目

表面粗糙度：Ra≤0.01μm（局部区域允许Ra≤0.02μm）

曲率半径误差：±0.05%（基准曲率≥50mm时）

中心厚度偏差：±0.02mm（厚度≤5mm时）

折射率均匀性：Δn≤2×10⁻⁴（@632.8nm波长）

镀膜层附着力：划格法测试3B级以上（划痕间距1mm）

透光率衰减：≤0.5%@380-780nm波段

应力双折射：≤5nm/cm（正交偏振光检测）

检测范围

树脂镜片（CR-39、MR系列材料）

玻璃镜片（BK7、Fused Silica等光学玻璃）

聚碳酸酯（PC）镜片

偏振镜片（TAC基/PVA基复合结构）

渐进多焦点镜片（自由曲面加工型）

检测方法

表面形貌分析：ISO 10110-5:2015《光学元件表面缺陷检验》

曲率半径测量：GB 10810.4-2012《眼镜镜片曲率半径测试方法》

厚度偏差检测：ASTM F1252-16《光学元件厚度测量标准方法》

折射率均匀性测试：ISO 10110-8:2020《光学材料均匀性表征》

镀膜附着力测试：GB/T 5270-2005《金属基体上金属覆盖层附着强度试验》

透光率测试：ASTM D1003-21《透明塑料雾度和透光率测定》

检测设备

Zygo Verifire HDX激光干涉仪：面形精度PV值测量（λ/20重复精度）

Mitutoyo Surftest SJ-410轮廓仪：表面粗糙度Ra值测量（0.01μm分辨率）

Taylor Hobson Talysurf PGI Optics三维轮廓仪：微观结构形貌重建（Z轴0.1nm分辨率）

Trioptics OptiSpheric IOL Pro曲率仪：曲率半径测量（±0.01%精度）

Shimadzu UV-3600i Plus分光光度计：透光率光谱分析（波长范围185-3300nm）

Olympus BX53M应力仪：双折射定量分析（1nm/cm灵敏度）

Bruker ContourGT-X3白光干涉仪：镀膜层厚度测量（±0.1nm重复性）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.