光伏板热斑检测

检测项目

热斑温度分布：测量异常区域温度梯度（-40℃~150℃），精度±0.5℃

反向偏压特性：测试反向偏压电流（0-30V/0-10A），记录击穿电压阈值

局部电流密度：扫描单元电流分布（分辨率0.1mA/cm²）

热循环老化测试：-40℃至85℃循环（1000次），监测功率衰减率

隐裂与缺陷关联分析：裂纹长度≥3mm定位精度±0.2mm

检测范围

单晶硅光伏组件（PERC/TOPCon结构）

多晶硅光伏组件（常规/黑硅工艺）

薄膜太阳能电池（CIGS/CdTe类型）

建筑一体化光伏组件（BIPV）

柔性光伏组件（轻量化基材）

检测方法

IEC 61215-2:2021 地面用晶体硅组件热斑耐久性测试

IEC 61730-2:2023 光伏组件安全鉴定-热斑测试

ASTM E2481-19 红外热成像法检测光伏缺陷标准

GB/T 34337-2017 光伏组件热斑试验技术要求

GB/T 34933-2017 晶体硅光伏组件隐裂检测方法

检测设备

FLIR T865红外热像仪：640×480分辨率，热灵敏度＜20mK

Keysight B2902A精密源表：0.1fA～10A/210V量程

PVPM 1000C IV曲线测试仪：最大功率点跟踪误差≤0.5%

Espec PL-3K环境试验箱：温变速率15℃/min

OLYMPUS MX63金相显微镜：500倍光学放大+激光扫描模块

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.