固有半导电性检测

检测项目

电导率测试：测量范围10⁻¹⁰~10³ S/cm，精度±2%

能带间隙测定：紫外-可见光谱法，分辨率0.01eV

载流子浓度分析：霍尔效应测试，灵敏度10¹⁰~10²⁰ cm⁻³

迁移率测试：范德堡法，误差范围±5%

热稳定性测试：热重分析（TGA），温度范围RT~1200℃

检测范围

聚吡咯/碳纳米管复合材料

氧化铟锡（ITO）透明导电薄膜

过渡金属硫化物（如MoS₂）

有机半导体单晶材料

钙钛矿型半导体材料

检测方法

ASTM F1525: 表面电阻率测试规范

ISO 1853: 导电橡胶体积电阻率测定

GB/T 1551: 半导体单晶霍尔系数测试方法

IEC 62631-3-1: 介电性能与导电性测试

GB/T 4324: 半导体材料热分析方法

检测设备

KEITHLEY 2450四探针电阻率测试仪：支持脉冲模式测量

Agilent Cary 5000紫外-可见分光光度计：带积分球附件

Lake Shore 8404霍尔效应测试系统：磁场强度2T

NETZSCH STA 449F3同步热分析仪：DSC-TG联用

Thermo Fisher Scientific Nexsa G2能谱分析仪：XPS/UPS联用

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.