镉条检测

检测项目

纯度检测：镉元素含量≥99.99%（Cd含量百分比）

杂质元素分析：铅（Pb≤0.002%）、汞（Hg≤0.001%）、砷（As≤0.005%）

表面质量检验：氧化层厚度≤5μm，无裂纹/气孔缺陷

力学性能测试：抗拉强度≥65MPa，延伸率≥25%

晶粒度测定：平均晶粒尺寸≤50μm（金相显微镜法）

检测范围

工业级镉条（核工业屏蔽材料）

电子元器件用高纯镉材（半导体靶材）

合金添加剂（镉铜合金母材）

电镀阳极材料（电镀级镉条）

储能电池电极材料（镍镉电池用镉板）

检测方法

ASTM E1479-16《金属化学分析标准试验方法》

ISO 7523:2020《镍、钴、镉金属中杂质元素测定》

GB/T 26012-2010《镉及镉合金化学分析方法》

GB/T 228.1-2021《金属材料拉伸试验第1部分：室温试验方法》

ISO 643:2021《钢的显微晶粒度测定方法》

检测设备

ICP-OES光谱仪（Thermo Fisher iCAP 7400）：元素定量分析

电子万能试验机（Instron 5967）：力学性能测试

金相显微镜（Olympus GX53）：晶粒结构观测

X射线荧光光谱仪（Bruker S8 TIGER）：表面成分快速筛查

激光测厚仪（Keyence LK-G5000）：氧化层厚度测量

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.