检测项目
晶粒度等级测定(ASTM E112标准:G=4~12级)
相分布均匀性(面积占比误差≤±1.5%)
夹杂物间距测量(间距范围0.5-200μm)
孔隙率分析(孔隙直径≤50μm)
第二相粒子尺寸分布(D50值±0.3μm)
检测范围
金属材料:铝合金T6态/不锈钢316L/钛合金TC4
高分子材料:PA66-GF30/PEEK-CF/PTFE复合材料
陶瓷制品:氧化锆增韧陶瓷/碳化硅结构陶瓷
粉末冶金件:铁基含油轴承/硬质合金刀具
增材制造件:SLM成型316不锈钢/EBSM成型Ti6Al4V
检测方法
ASTM E112-13:金属平均晶粒度测定标准
ISO 13383-1:2012:精细陶瓷微观结构表征方法
GB/T 6394-2017:金属平均晶粒度测定法
ISO 16000-27:2014:复合材料界面结合度测试
GB/T 13298-2015:金属显微组织检验方法
检测设备
蔡司Axio Imager M2m金相显微镜(5000×放大倍率)
牛津Inca X-act能谱仪(元素分析精度0.1wt%)
布鲁克D8 ADVANCE X射线衍射仪(角度分辨率0.0001°)
岛津EPMA-8050G电子探针(束斑直径50nm)
徕卡EM UC7超薄切片机(切片厚度10nm±2nm)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。