步进衰减器检测

检测项目

衰减量误差：±0.1dB~±1.0dB（10MHz~40GHz）

电压驻波比（VSWR）：≤1.5:1（全频段）

插入损耗平坦度：±0.3dB/octave

温度稳定性：±0.02dB/℃（-55℃~+85℃）

开关重复性：≤0.05dB（10^6次循环）

检测范围

同轴型步进衰减器（N型/SMA/2.92mm接口）

波导结构衰减器（WR15/WR22频段）

表面贴装式微型衰减模块

薄膜电阻式衰减单元

PIN二极管可编程衰减组件

检测方法

IEC 60487-3: 微波器件插入损耗测量规范

ASTM F1502: 射频元件驻波比测试规程

GB/T 11313.41-2018: 射频连接器电气试验方法

ISO/IEC 17025: 测试系统校准与验证要求

GJB 360B-2009: 电子及电气元件环境试验方法

检测设备

矢量网络分析仪：Keysight PNA-X N5247B（10MHz~67GHz）

高精度信号源：Rohde & Schwarz SMW200A（100kHz~40GHz）

微波功率计：Keysight N1912A（50MHz~110GHz）

温度冲击试验箱：ESPEC TSE-11-A（-70℃~+180℃）

自动切换测试系统：Pickering 40-295系列射频矩阵开关

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.