检测项目
电子发射效率测试:电流密度0.5-10A/cm²,温度800-1600℃
热稳定性验证:高温持续时长≥500h,温度波动±5℃
表面形貌分析:粗糙度Ra≤0.2μm,晶粒尺寸0.5-3μm
成分均匀性检测:活性物质含量偏差≤±1.5wt%
寿命加速试验:脉冲频率1-100kHz,累计工作时间≥10000h
检测范围
真空电子器件用钡钨阴极材料
X射线管铼钨合金阴极组件
电子显微镜六硼化镧单晶阴极
离子镀膜设备氧化物浸渍阴极
大功率微波管钪酸盐涂层阴极
检测方法
ASTM F1711-08(2020):电子发射特性测试规范
ISO 18503:2015:热场致发射性能测试方法
GB/T 13301-2021:金属材料高温强度试验规程
IEC 60384-18:2016:电子元件寿命加速试验标准
GB/T 4340.3-2012:显微维氏硬度测试技术规范
检测设备
JEOL JSM-IT800扫描电镜:表面形貌观测(分辨率1nm)
Thermo Scientific NORAN System 7 X射线能谱仪:元素分布分析(精度0.01at%)
Keysight B1500A半导体参数分析仪:电流-电压特性测试(量程10pA-10A)
CVD Equipment Corporation高温真空炉:极限温度2000℃(真空度10⁻⁶Pa)
Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪:晶体结构分析(角度精度0.0001°)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。