绝缘栅双极型晶体管检测

检测项目

静态参数测试：集电极-发射极饱和电压（Vces≤3.5V）、栅极阈值电压（Vge(th)=4.5-6.5V）、漏电流（Igss≤±1μA）

动态特性测试：开关时间（ton≤100ns/toff≤200ns）、反向恢复时间（trr≤300ns）、栅极电荷量（Qg≤500nC）

热特性测试：结温耐受（Tjmax=150-175℃）、热阻（Rth(j-c)≤0.5K/W）、功率循环次数（≥50,000次）

绝缘性能测试：耐压强度（Viso≥2500VAC/min）、爬电距离（≥8mm/kV）、局部放电量（≤5pC）

可靠性测试：高温高湿试验（85℃/85%RH/1000h）、机械振动（10-2000Hz/50g）、盐雾腐蚀（5%NaCl/48h）

检测范围

IGBT模块：电压等级1200V-6500V/电流50A-3600A的功率模块

IGBT晶圆：6英寸/8英寸硅基及碳化硅基半导体晶圆

散热基板：直接覆铜陶瓷基板（DBC）、活性金属钎焊基板（AMB）

封装材料：硅凝胶、环氧树脂、铝键合线（直径200-500μm）

驱动电路：门极驱动电阻（2-10Ω）、退饱和保护响应时间（≤2μs）

检测方法

IEC 60747-9:2019《半导体器件-分立器件-第9部分：绝缘栅双极晶体管》

GB/T 29332-2012《半导体器件分立器件第9部分：绝缘栅双极晶体管》

ASTM F1241-22《功率半导体热特性测试标准》

ISO 16750-4:2010《道路车辆电气电子设备环境条件第4部分：气候负荷》

GB/T 2423.17-2008《电工电子产品环境试验第2部分：盐雾试验方法》

检测设备

Keysight B1505A功率器件分析仪：支持1700V/1000A脉冲测试的静态参数测量系统

Tektronix DPO7054数字示波器：带宽5GHz的动态特性分析平台

Thermo Scientific T3Ster瞬态热阻测试仪：μs级分辨率的热特性表征设备

Hipotronics ACW-4020耐压测试仪：输出0-5kVAC/精度±1%的绝缘性能测试装置

ESPEC PL-3KPH气候箱：温度范围-70℃~180℃/湿度10%~98%RH的环境模拟系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.