光耦合隔离器检测

检测项目

1.绝缘电阻测试：500VDC下测量输入-输出端电阻值≥10¹²Ω

2.耐压强度测试：AC3.75kV/1min条件下无击穿或飞弧现象

3.电流传输比（CTR）测试：输入电流10mA时输出电流偏差≤15%

4.响应时间测量：上升时间≤3μs/下降时间≤4μs（IF=16mA）

5.高温高湿试验：85℃/85%RH环境持续1000小时后CTR衰减≤20%

检测范围

1.晶体管输出型光耦（如PC817系列）

2.高速逻辑门光耦（如6N137系列）

3.可控硅输出光耦（如MOC3021系列）

4.模拟线性光耦（如HCNR201系列）

5.光纤耦合隔离模块（含多通道集成器件）

检测方法

1.IEC60747-5-5:2020《半导体器件分立器件第5-5部分：光电子器件》

2.GB/T15651-2021《半导体分立器件和集成电路光电子器件试验方法》

3.ASTMF1241-22《光耦合器电流传输比测量标准方法》

4.ISO16750-4:2023《道路车辆电气环境条件试验规范》

5.GB/T2423.3-2016《电工电子产品环境试验第2部分：恒定湿热试验》

检测设备

1.KeysightB1505A功率器件分析仪：支持0.1pA~10A电流精度测量

2.Chroma19032耐压测试仪：AC0~5kV/DC0~6kV耐压测试

3.TektronixMSO64B示波器：6GHz带宽响应时间分析

4.ESPECSH-642恒温恒湿箱：温度范围-70℃~150℃，湿度10%~98%RH

5.HP4339B高阻计：10³~10¹⁶Ω绝缘电阻测量

6.Fluke5522A多产品校准器：光电参数综合校准

7.Agilent4156C半导体参数分析仪：CTR特性曲线扫描

8.HiokiIM3536LCR表：10μHz~8MHz频段电容特性分析

9.ThermoScientificCL24氙灯老化箱：模拟光照老化试验

10.OMRONZS-L直流电源：0~100V/0~20A精密供电系统

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.