检测项目
1.材料厚度偏差:允许公差0.05mm至0.5mm(视材质等级调整)
2.局部厚度差异:相邻区域波动值≤3%-8%(按GB/T11344分区计算)
3.整体均匀度:CV值(变异系数)≤1.5%(ASTMD6988规定)
4.边缘减薄率:距边沿10mm处厚度衰减≤基材厚度的5%
5.重复性误差:同点连续测量差值≤量程的0.2%(ISO4593标准)
检测范围
1.金属板材:冷轧钢板(0.2-6mm)、铝箔(0.006-0.2mm)、铜带材(0.1-3mm)
2.塑料薄膜:BOPP膜(12-60μm)、PE保护膜(50-200μm)、复合软包装材料
3.涂层材料:电泳漆膜(15-25μm)、粉末涂层(60-120μm)、阳极氧化膜(5-25μm)
4.玻璃制品:平板玻璃(3-19mm)、光学镜片基材(1-10mm)、ITO导电玻璃
5.复合材料:碳纤维预浸料(0.1-0.5mm)、芳纶蜂窝芯材(10-50mm)、金属层压板
检测方法
1.接触式测量:ASTMB499(磁感应法)、GB/T4956(涡流法)、ISO2178(机械千分尺法)
2.非接触测量:ISO4593(激光三角法)、ASTMD8136(光谱共焦法)、GB/T2523(X射线荧光法)
3.在线监测:ISO16809(红外热成像法)、GB/T34481(机器视觉检测系统)
4.破坏性测试:GB/T1771(金相切片法)、ASTMB487(横截面显微测量)
5.动态测量:ISO15243-2(旋转体径向跳动检测)、GB/T11344(移动扫描式测厚)
检测设备
1.laser-3000激光测厚仪(德国米铱):分辨率0.1μm,扫描速度200m/min,适用薄膜在线监测
2.PosiTector600涂层测厚仪(美国DeFelsko):符合ISO2808标准,量程0-2000μm
3.HG-1000霍尔效应测厚系统:专用于磁性基材非破坏测量,精度0.5%
4.Olympus38DLPLUS超声波测厚仪:频率5MHz/10MHz可选,适用高温金属件检测
5.KeyenceLJ-V7000系列线激光传感器:Z轴重复精度0.02μm,支持三维轮廓分析
6.MitutoyoLitematicVL-50电子千分尺:机械接触式测量,符合JJG427检定规程
7.ThermoScientificNitonXL5XRF分析仪:元素层厚度测量范围0.001-50μm
8.ZeissAxioImager金相显微镜:配合切割制样设备实现微米级断面观测
9.CyberOpticsSE300三维光学扫描仪:面扫描精度0.15μm,适用曲面工件测量
10.Elcometer456数字式湿膜轮规:按ASTMD4414标准测定液态涂层施工厚度
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。