晶种加入量检测

检测项目

1.晶种质量浓度：测定范围0.01-50wt%，精度0.5%

2.粒径分布特征：D10/D50/D90值测定（0.1-1000μm），跨度系数≤1.5

3.化学纯度分析：主成分含量≥99.9%，杂质元素检出限0.1ppm

4.分散稳定性指数：Zeta电位测定（50mV），沉降速率≤0.1mm/h

5.热稳定性参数：TG-DSC联用分析（25-1200℃），相变温度偏差2℃

检测范围

1.纳米级半导体晶种材料（SiC/GaN/AlN等）

2.催化剂前驱体（ZSM-5/SAPO-34分子筛等）

3.压电陶瓷粉体（PZT/BaTiO3/LiNbO3等）

4.金属合金粉末（316L/Inconel/Ti6Al4V等）

5.高分子结晶母粒（PP/PE/PET等）

检测方法

ASTME2456-2019《结晶过程控制标准指南》

ISO13320:2020《粒度分析-激光衍射法》

GB/T19077-2016《粒度分布-激光衍射法》

ISO14703:2018《陶瓷粉末样品制备》

GB/T17473.7-2008《微电子技术用贵金属浆料测试方法》

检测设备

1.MalvernMastersizer3000激光粒度分析仪：测量范围0.01-3500μm

2.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪：角度精度0.0001，最小步长0.0001

3.NetzschSTA449F5同步热分析仪：温度分辨率0.1μg

4.HoribaSZ-100Z纳米粒度电位仪：Zeta电位测量精度0.3mV

5.ThermoScientificiCAP7400ICP-OES：检出限达ppb级

6.JEOLJSM-7900F场发射电镜：分辨率0.8nm@15kV

7.MettlerToledoXPR205DR微量天平：称量精度0.01mg

8.AntonPaarLitesizer500颗粒分析系统：动态光散射技术

9.Agilent7900ICP-MS：同位素比值精度＜0.05%RSD

10.ShimadzuUV-2600i分光光度计：波长范围185-900nm

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

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