检测项目
1.表面电荷密度:测量范围110⁻⁰-110⁻C/cm,分辨率0.5%
2.体相离子浓度:检出限0.01ppm-1000ppm,误差≤2%
3.电荷迁移率:测试范围10⁻⁸-10cm/(Vs),温度控制0.1℃
4.Zeta电位测定:pH范围2-12,电场强度50-300V/cm
5.电荷衰减特性:时间分辨率0.1ms-1000s,湿度控制3%RH
检测范围
1.半导体材料:硅晶圆、GaN基板等电子级材料
2.电解质溶液:锂离子电池电解液、燃料电池质子交换膜
3.高分子聚合物:PE隔膜、PVDF介电材料
4.纳米粉体:TiO₂光催化剂、Al₂O₃陶瓷粉末
5.生物医用材料:骨修复羟基磷灰石、药物载体微球
检测方法
ASTMD4564-2016《表面电荷密度测试标准方法》
ISO13099-3:2021《胶体体系Zeta电位测定第3部分:电声法》
GB/T16840.4-2021《绝缘材料电气强度试验方法第4部分:空间电荷测量》
GB/T37049-2018《纳米粉体表面电位测定电泳光散射法》
IEC62631-3-1:2016《固体绝缘材料介电性能第3-1部分:空间电荷测量》
检测设备
1.KeysightB1500A半导体分析仪:支持10fA-1A电流测量精度
2.MalvernZetasizerNanoZSP:Zeta电位测量范围500mV
3.ThermoScientificDionexICS-6000:离子色谱系统检出限0.1ppb
4.Keithley4200A-SCS参数分析仪:支持AC/DC电荷瞬态分析
5.HORIBASZ-100Z纳米颗粒分析仪:动态光散射法测粒径分布
6.Agilent4294A阻抗分析仪:频率范围40Hz-110MHz
7.AntonPaarSurPASS3:流动电势法测表面电荷特性
8.HitachiHigh-TechEA1000:热刺激电流法测陷阱电荷密度
9.BrukerDimensionIcon原子力显微镜:表面电势成像分辨率1mV
10.ESPECPCT-320温控箱:温度范围-70℃~+180℃(配合电学测试)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。