检测项目
1.传输延迟时间(tPHL/tPLH):测量信号从输入到输出的传播延迟(0.1-15ns)
2.建立时间(tsu)与保持时间(th):验证数据稳定窗口(0.5ns精度)
3.静态功耗电流(ICC):测试待机状态漏电流(μA级测量)
4.输入高/低电压阈值(VIH/VIL):测定逻辑电平识别范围(10mV分辨率)
5.时钟抖动容忍度:测试最大允许时钟偏移量(200ps可调)
检测范围
1.CMOS工艺D型触发器(74HC系列)
2.TTL电平JK触发器(SN74LS系列)
3.FPGA嵌入式配置寄存器(Xilinx7系列)
4.高速串行移位寄存器(>1Gbps速率)
5.抗辐射加固型航天级寄存器
检测方法
1.IEC60747-14-1:2020半导体器件-数字集成电路测试通则
2.ASTMF1243-18(2023)时序参数测量标准规程
3.GB/T17574-2021半导体器件集成电路数字电路测试方法
4.JESD22-A108F温度循环可靠性测试规范
5.ISO11452-8汽车电子抗电磁干扰测试标准
检测设备
1.KeysightInfiniiumUXR0134A示波器(13GHz带宽,4通道同步采样)
2.TektronixAWG5208任意波形发生器(8通道25GS/s信号输出)
3.AdvantestT2000集成电路测试系统(1024数字通道)
4.Chroma3380P功率分析仪(0.05%电流测量精度)
5.ThermoStreamT-2600温度冲击箱(-65℃~+150℃温变速率>30℃/min)
6.AgilentB1500A半导体参数分析仪(fA级漏电流测试)
7.R&SSMA100B微波信号源(20GHz高频时钟模拟)
8.EMTestDPI8016A电磁干扰注入系统(150kHz~6GHz频段)
9.NIPXIe-6570数字模式仪器(1ns时序分辨率)
10.Fluke8588A参考级万用表(8位电压基准测量)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。