检测项目
1.平均厚度测定:测量点≥9个/㎡,允许偏差0.05mm
2.厚度均匀性分析:局部极差≤0.1mm/100mm
3.最小/最大厚度定位:分辨率0.001mm
4.边缘效应测试:距边缘5mm处厚度波动≤3%
5.重复性验证:同点10次测量RSD<0.5%
检测范围
1.金属板材:铝合金板(0.5-6mm)、不锈钢卷材(0.3-3mm)
2.塑料薄膜:BOPP/PET薄膜(10-500μm)、医用导管(0.8-2mm)
3.玻璃制品:建筑玻璃(3-19mm)、光学镜片基材(1-10mm)
4.涂层材料:电泳漆层(15-30μm)、热浸镀锌层(50-200μm)
5.复合材料:碳纤维预浸料(0.1-0.5mm)、夹层结构芯材(1-20mm)
检测方法
ASTMB499-14磁性法测量非磁性基体金属镀层厚度
ISO4591:2016塑料薄膜机械接触式测厚规程
GB/T11344-2021超声波脉冲反射法测厚通则
ISO2360:2017非导电基体涡流法镀层测厚技术
GB/T13452.2-2008漆膜厚度β射线反散射测定法
检测设备
MitutoyoLitematicVL-50:接触式测厚仪,分辨率0.1μm,量程0-12.7mm
Olympus38DLPlus:超声波测厚仪,频率5MHz,精度0.01mm
Elcometer456:涂层测厚仪,磁感应/涡流双模式,量程0-3000μm
KeyenceLS-9000:激光位移计,采样率50kHz,线性度0.02%F.S.
BYK-GardnerMicrometerII:薄膜测厚仪,压力20kPa1kPa
FischerMP0R:X射线荧光镀层分析仪,元素检测范围Ti-U
ZeissO-Inspect322:光学影像测量系统,CCD分辨率24482050
PanametricsMagna-Mike8600:霍尔效应测厚系统,适用曲面件测量
TQCLD0550:非接触式涂层测厚仪,红外干涉原理
HexagonAbsoluteARM:便携式三坐标测量臂,空间精度0.023mm
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。