检测项目
1.层间对准度检测:偏移量≤25μm(6层板),≤35μm(8层及以上)
2.介电常数测试:1MHz下Dk值3.50.15(FR-4材料)
3.铜箔厚度测量:外层铜厚355μm,内层铜厚182μm
4.热冲击试验:-55℃~+125℃循环100次无分层
5.绝缘电阻测试:DC500V下≥110^12Ω(常态)/≥110^9Ω(湿热后)
6.剥离强度测试:1.4N/mm(常态)/1.0N/mm(热应力后)
7.离子污染度:氯化钠当量≤1.56μg/cm
检测范围
1.刚性基板:FR-4环氧玻璃布基材、高Tg改性环氧树脂基材
2.柔性基材:聚酰亚胺薄膜(PI)、液晶聚合物(LCP)基材
3.特种板材:高频PTFE复合材料、金属基散热板材
4.成品类型:高密度互连板(HDI)、埋容埋阻板、刚挠结合板
5.表面处理:化学沉镍金(ENIG)、沉银(ImmersionAg)、OSP涂层
6.导通结构:激光盲孔(孔径≤100μm)、机械通孔(孔径≥200μm)
检测方法
1.IPC-TM-6502.6.7:热应力试验(288℃锡炉浸渍法)
2.GB/T4722-2017:印制电路用覆铜箔层压板试验方法
3.ASTMD150-11:介质材料介电常数测定规程
4.IEC61189-3-719:微孔结构X射线断层扫描法
5.GB/T4677-2017:印制板剥离强度测试方法
6.IPC-6012E:刚性印制板资格与性能规范
7.ISO14644-1:洁净室离子污染度测试环境控制标准
检测设备
1.YXLONFF35CT:微焦点X射线断层扫描仪(分辨率0.5μm)
2.KeysightN5224B:矢量网络分析仪(10MHz-40GHz介电特性测试)
3.MitutoyoCMM-ApexP:三坐标测量机(空间精度1.5μm)
4.ThermoScientificCEDIAS:离子色谱仪(污染度分析精度0.01μg/cm)
5.Instron5967:万能材料试验机(剥离强度测试分辨率0.01N)
6.HitachiSU5000:场发射扫描电镜(镀层结构分析放大率100,000)
7.ESPECTSE-11-A:热冲击试验箱(转换时间≤15s)
8.OLYMPUSDSX1000:数码金相显微镜(3D形貌重建功能)
9.Chroma19032:耐压测试仪(AC5kV绝缘电阻测量)
10.PVATePlaCM12:超声波扫描显微镜(分层缺陷检出率≥99%)
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自改制以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。