半导电屏蔽检测

检测项目

1.体积电阻率：测量范围110⁻~110⁶Ωcm（ASTMD991）

2.表面电阻率：测试电压100V5%（GB/T1410-2006）

3.热稳定性：温度循环-40℃~150℃，循环次数≥500次（IEC60811-501）

4.附着力强度：剥离力测试≥15N/cm（GB/T2792-2014）

5.厚度均匀性：公差0.05mm（ISO2178）

6.介电强度：击穿电压≥20kV/mm（GB/T1408.1-2016）

检测范围

1.电力电缆用交联聚乙烯半导电屏蔽层

2.GIS设备环氧树脂复合屏蔽材料

3.高压绝缘子硅橡胶半导体涂层

4.光伏组件用碳纳米管改性EVA胶膜

5.电磁屏蔽用导电纤维复合材料

检测方法

1.ASTMD257：绝缘材料直流电阻测试规范

2.IEC62631-3-1：体积电阻率高温测试法（150℃2℃）

3.GB/T3048.3-2007：电缆半导电层电阻率试验

4.ISO6721-1：动态机械分析（DMA）法测热变形温度

5.GB/T1692-2008：硫化橡胶绝缘电阻测定

检测设备

1.KEITHLEY2450源表：四探针法电阻率测量（10μΩ~1GΩ）

2.AGILENTE4980ALCR表：10Hz~2MHz频段介电特性分析

3.INSTRON5967万能试验机：0.5N~30kN附着力测试

4.THERMOLABTHS-080高温老化箱：-70℃~300℃温控精度0.5℃

5.HIOKIIM3590化学阻抗分析仪：4端子法体积电阻测量

6.ZWICKZ010厚度测量仪：分辨率0.1μm激光测厚系统

7.HAEFELYHipotronicsTCH150耐压测试仪：AC150kV/DC200kV击穿试验

8.METTLERTGA/DSC3+同步热分析仪：热失重与氧化诱导期测定

9.KEYENCEVHX-7000数码显微镜：5000倍表面形貌分析

10.EMTESTUCS500N20脉冲发生器：8/20μs雷击浪涌模拟测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.