碳化硅粉末检测

检测项目

1.化学成分分析：SiC含量（≥98.5%）、游离碳（≤0.3%）、Fe（≤0.1%）、Al（≤0.05%）、O（≤0.8%）

2.粒度分布测定：D10（0.5-1.2μm）、D50（2.5-5.0μm）、D90（8-15μm）、Span值（≤2.5）

3.比表面积测试：BET法（1-10m/g），孔隙率（≤5%）

4.密度测定：振实密度（1-1.8g/cm），真密度（3.210.02g/cm）

5.晶体结构表征：α-SiC含量（≥95%），β-SiC相变温度（2100℃50℃）

检测范围

1.半导体级碳化硅粉末（纯度99.999%）

2.耐火材料用粗颗粒粉末（80-200目）

3.精密陶瓷烧结用亚微米级粉末（0.1-1μm）

4.涂层材料用球形化处理粉末（球形度≥90%）

5.复合材料增强用表面改性粉末（偶联剂包覆率≥85%）

检测方法

1.ASTME1941-10：高频燃烧红外吸收法测定总碳含量

2.ISO13320:2020：激光衍射法粒度分析操作规程

3.GB/T19077-2016：粒度分布测定-激光衍射法

4.ISO9277:2010：BET氮吸附法比表面积测试

5.GB/T24533-2019：锂离子电池负极材料中磁性物质测试

6.JISR1617:2015：X射线衍射法定量分析晶相组成

检测设备

1.X射线荧光光谱仪（XRF-1800）：元素定量分析

2.激光粒度分析仪（Mastersizer3000）：0.01-3500μm粒度测试

3.比表面及孔隙度分析仪（TriStarII3020）：BET比表面测量

4.X射线衍射仪（D8ADVANCE）：晶体结构及物相分析

5.扫描电镜（SU5000）：微观形貌及粒径观测

6.真密度仪（AccuPycII1340）：氦气置换法密度测定

7.电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP-OES7300）：痕量元素检测

8.磁性物质测试仪（LMS-100）：铁磁性杂质含量测定

9.热重分析仪（TGA/DSC3+）：氧化失重及热稳定性测试

10.振实密度仪（BT-301）：粉末堆积性能测试

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.