介质光纤检测

检测项目

1. 衰减系数：测试波长1310nm/1550nm下的损耗值（≤0.36 dB/km）

2. 几何尺寸：包层直径125±1μm、纤芯直径9±0.5μm（单模）

3. 模场直径：单模光纤典型值8.6-9.5μm（1550nm）

4. 截止波长：≤1260nm（2m光纤段测试）

5. 抗拉强度：≥0.69GPa（动态疲劳试验）

6. 温度循环：-40℃至+70℃下传输稳定性

7. 偏振模色散：≤0.2ps/√km（高速通信光纤）

检测范围

1. G.652D/G.657单模通信光纤

2. OM3/OM4多模数据中心光纤

3. 塑料光纤（POF）：PMMA/PC材质

4. 特种光纤：抗辐射型/耐高温型（-60~300℃）

5. 光子晶体光纤（PCF）

6. 掺铒/掺镱增益光纤

7. 光纤预制棒（芯棒/包层棒）

检测方法

1. 衰减测试：ISO/IEC 60793-1-40剪断法

2. 几何参数：GB/T 15972.30干涉测量法

3. 机械强度：ASTM C1683三点弯曲试验

4. 色散系数：IEC 60793-1-42相移法

5. 环境试验：GB/T 7424.2温度循环+湿热试验

6. PMD测试：TIA-455-124-Jones矩阵法

7. 折射率分布：IEC 60793-1-21折射近场法

检测设备

1. OTDR测试仪：EXFO FTB-200（动态范围45dB）

2. 光纤几何参数分析仪：Photon Kinetics PK2600（精度±0.05μm）

3. 光谱分析仪：YOKOGAWA AQ6370D（波长范围600-1700nm）

4. 拉力试验机：INSTRON 5848（最大载荷5kN）

5. 高低温试验箱：ESPEC SH-642（温控精度±0.5℃）

6. 偏振分析仪：LUNA OVA5000（PMD分辨率0.01ps）

7. 折射率测试系统：York S14折射近场扫描仪

8. 端面干涉仪：Norland AC3000（3D形貌分析）

9. 光纤熔接机：Fujikura 70S+（平均损耗≤0.02dB）

10. 气密性测试仪：VES-TECH VLT-200（氦质谱检漏）

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.