导电陶瓷检测

检测项目

1. 电导率测试：测量范围10^-6-10³ S/cm，精度±1%

2. 抗弯强度测试：加载速率0.5 mm/min，跨距30 mm

3. 体积密度测定：阿基米德法测量精度±0.02 g/cm³

4. 热膨胀系数：温度范围25-1000℃，升温速率5℃/min

5. 介电常数测试：频率1 kHz-1 MHz，电压1 Vrms

检测范围

1. 氧化锆基导电陶瓷（ZrO₂-Y₂O₃体系）

2. 碳化硅基高温导电陶瓷（SiC-AlN复合材料）

3. 钛酸钡系半导体陶瓷（BaTiO₃基PTC材料）

4. 氧化锡透明导电薄膜（SnO₂:F涂层）

5. 石墨烯复合导电陶瓷（Al₂O₃/GNPs体系）

检测方法

1. 电导率：四探针法（ASTM F43/GB/T 1551）

2. 机械性能：三点弯曲法（ISO 14704/GB/T 6569-2006）

3. 热分析：激光闪射法（ASTM E1461/GB/T 22588）

4. 微观结构：扫描电镜观测（ISO 16700:2016）

5. 成分分析：X射线荧光光谱法（GB/T 16597-2019）

检测设备

1. RTS-9型四探针测试仪：电阻率测量范围10^-4-10⁶ Ω·cm

2. Instron 5967万能试验机：最大载荷50 kN，精度0.5级

3. Netzsch LFA467 HT HyperFlash：热扩散系数测量精度±3%

4. Hitachi SU8010场发射电镜：分辨率1.0 nm@15 kV

5. Shimadzu EDX-7000荧光光谱仪：元素分析范围Be-U

6. Agilent E4980A LCR表：基本精度0.05%

7. Linseis L75/125膨胀仪：最大升温速率50℃/min

8. Sartorius CPA225D电子天平：称量精度0.01 mg

9. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500 μm

10. Thermo Scientific K-Alpha XPS系统：能量分辨率<0.5 eV

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.