比电阻检测

检测项目

1.体积电阻率：测量范围110 ^-3 ~110 ¹⁸ Ωcm
2.表面电阻率：测试电压10V~1000VDC
3.电阻温度系数：温度范围-70℃~300℃
4.各向异性电阻率：三维轴向偏差值测量
5.介质击穿强度：电压梯度0.1~100kV/mm

检测范围

1.金属材料：铜箔、铝合金导线、贵金属触点
2.半导体材料：硅晶圆、砷化镓基板、碳化硅晶片
3.绝缘材料：环氧树脂板、陶瓷基板、聚酰亚胺薄膜
4.导电高分子材料：PEDOT:PSS薄膜、碳纳米管复合材料
5.功能性薄膜：ITO导电玻璃、金属溅射镀膜

检测方法

1.ASTMD257-14：绝缘材料直流电阻测试标准
2.IEC62631-3-1：体积/表面电阻率测量规范
3.GB/T1410-2006：固体绝缘材料体积/表面电阻试验
4.ISO3915:1999：导电塑料电阻率测定方法
5.JISK7194:2017：四点探针法测量薄膜电阻率

检测设备

1.KeysightB2987A：10 ^-3 ~10 ¹⁸ Ω超高阻计
2.HIOKIRM3548：四端法电阻测试仪（0.01μΩ~3.5MΩ）
3.Keithley6517B：静电计级高阻测量系统
4.Agilent4339B：10 ⁴ ~10 ¹⁷ Ω高阻表
5.MitsubishiMCP-T610：四探针薄膜电阻测试仪
6.CascadeCMX-100AX：晶圆级接触式探针台
7.ESPECPCT-320：温控型环境试验箱（-70℃~150℃）
8.Trek152-1：高压电源模块（10kVDC）
9.LabVIEWNIMeasure：多通道数据采集分析系统
10.JandelRM3000+：自动四探针方阻测试平台

北京中科光析科学技术研究所【简称：中析研究所】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师.